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一种基于充电芯片的测试系统及充电测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010884262.4
申请日：
2020-08-28
公开(公告)号：
CN112147484A
公开(公告)日：
2020-12-29
发明(设计)人：
黄贤超
申请人：
申请人地址：
519000 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-514（集中办公区）
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-01-15 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200828 |
| 2021-10-26 | 著录事项变更 | 著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人 变更前:珠海市一微半导体有限公司 变更后:珠海一微半导体股份有限公司 变更事项:地址 变更前:519000 广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-514（集中办公区） 变更后:519000 广东省珠海市横琴新区环岛东路3000号2706 |
| 2020-12-29 | 公开 | 公开 |