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单元测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202210051438.7
申请日：
2022-01-17
公开(公告)号：
CN114416552A
公开(公告)日：
2022-04-29
发明(设计)人：
汤雪萍 黄震人 熊小庆
申请人：
申请人地址：
100140 北京市西城区复兴门内大街55号
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
张博
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-05-20 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220117
2022-04-29 公开 公开
共 50 条
[1]
失效单元测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
朱皖江 ;
黄建钦 .
中国专利 :CN115565592A ,2023-01-03
[2]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
罗秉安 ;
连煜伟 ;
赖培挺 ;
李志勇 .
中国专利 :CN113051163A ,2021-06-29
[3]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王泽文 .
中国专利 :CN117609064A ,2024-02-27
[4]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
罗秉安 ;
连煜伟 ;
赖培挺 ;
李志勇 .
中国专利 :CN113051163B ,2024-12-27
[5]
单元测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
牙祖将 ;
袁青星 .
中国专利 :CN114860589A ,2022-08-05
[6]
车辆功能单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
蒋盛飞 .
中国专利 :CN114095405B ,2022-02-25
[7]
处理单元测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
钱俊杰 ;
郭文平 ;
李治贤 ;
钱乐 ;
谢宇霆 .
中国专利 :CN120216272A ,2025-06-27
[8]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030B ,2025-09-19
[9]
失效单元测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112927750A ,2021-06-08
[10]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030A ,2023-01-10
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