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一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法
被引:0
申请号
:
CN202210017828.2
申请日
:
2022-01-07
公开(公告)号
:
CN114371186A
公开(公告)日
:
2022-04-19
发明(设计)人
:
王丽晖
杨诺莎
高巍
王海丹
李军伟
张道光
李奎
张雷
潘英胜
申请人
:
申请人地址
:
114000 辽宁省鞍山市铁西区环钢路1号
IPC主分类号
:
G01N23223
IPC分类号
:
G01N232202
代理机构
:
鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙) 21224
代理人
:
张群
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-19
公开
公开
2022-05-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20220107
共 50 条
[1]
一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法
[P].
王丽晖
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
王丽晖
;
杨诺莎
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
杨诺莎
;
高巍
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
高巍
;
王海丹
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鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
王海丹
;
李军伟
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
李军伟
;
张道光
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
张道光
;
李奎
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鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
李奎
;
张雷
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鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
张雷
;
潘英胜
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机构:
鞍钢股份有限公司
鞍钢股份有限公司
潘英胜
.
中国专利
:CN114371186B
,2024-03-19
[2]
一种熔融制样-X射线荧光测定钛铁中合金元素的方法
[P].
汤兰兰
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汤兰兰
;
刘素祥
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刘素祥
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赵宁
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赵宁
;
王一海
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王一海
;
王长军
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王长军
;
孙炜
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孙炜
;
潘宇洁
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潘宇洁
;
柳东徽
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柳东徽
.
中国专利
:CN109358082A
,2019-02-19
[3]
应用X荧光粉末压片法测定萤石中组分含量的方法
[P].
马爱方
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马爱方
;
冯士娟
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冯士娟
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郑连杰
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郑连杰
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左丽峰
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左丽峰
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陈剑
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陈剑
;
刘宾
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刘宾
;
商英
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商英
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黄泽林
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黄泽林
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马永昌
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马永昌
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周冀锋
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周冀锋
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刘志宏
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刘志宏
;
赵超
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赵超
;
高小飞
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高小飞
.
中国专利
:CN102809578A
,2012-12-05
[4]
一种利用粉末压片测定铁合金的方法
[P].
王亚虎
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王亚虎
;
李树杰
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李树杰
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蒋云龙
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蒋云龙
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刘璐
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刘璐
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杨峥
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杨峥
.
中国专利
:CN105866154A
,2016-08-17
[5]
一种锰硅合金元素检测方法
[P].
赵凤俊
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赵凤俊
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黄飞
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黄飞
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吴国臣
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吴国臣
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朱海丰
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朱海丰
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李成林
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李成林
.
中国专利
:CN115508397A
,2022-12-23
[6]
一种X荧光熔片法测定铌铁合金中主量元素的方法
[P].
顾强
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顾强
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滕广清
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滕广清
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鲍希波
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鲍希波
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张占杰
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张占杰
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杜彩霞
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杜彩霞
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张彩芳
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张彩芳
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左丽峰
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左丽峰
.
中国专利
:CN110376232A
,2019-10-25
[7]
一种X荧光熔片法测定钛铁合金中主量元素的方法
[P].
顾强
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顾强
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王文杰
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王文杰
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王彬果
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王彬果
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柴兴春
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柴兴春
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殷雪霞
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殷雪霞
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左丽峰
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左丽峰
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耿丽君
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耿丽君
.
中国专利
:CN110376233A
,2019-10-25
[8]
X荧光熔片法测定铬铁合金中主量元素的方法
[P].
顾强
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顾强
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左丽峰
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左丽峰
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张秀宏
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张秀宏
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张建中
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张建中
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冀丽英
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冀丽英
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王敏
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王敏
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徐静
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徐静
.
中国专利
:CN110646452A
,2020-01-03
[9]
粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中杂质的方法
[P].
杜亚明
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杜亚明
.
中国专利
:CN107228874A
,2017-10-03
[10]
一种锂硼合金中锂元素含量的测定方法
[P].
李丰屹
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机构:
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
李丰屹
;
曾云斌
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机构:
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
曾云斌
;
朱云
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上海有色金属工业技术监测中心有限公司
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
朱云
;
周鸿轩
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机构:
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
上海有色金属工业技术监测中心有限公司
周鸿轩
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中国专利
:CN117169264B
,2024-07-09
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