测量AR减反膜厚度和折射率的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410603824.8

申请日：

2014-11-03

公开(公告)号：

CN104296671A

公开(公告)日：

2015-01-21

发明(设计)人：

尚修鑫

申请人：

申请人地址：

215300 江苏省苏州市昆山市开发区章基路189号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

G01N2155

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-30	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101754609941 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:2014106038248 申请公布日:20150121
2015-01-21	公开	公开
2015-02-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101599226967 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:2014106038248 申请日:20141103

共 50 条

[1]

测量AR减反膜厚度和折射率的装置 [P].

朱峥嵘 ;

埃德加·吉尼奥 ;

赵连芳 .

中国专利 :CN104215187A ,2014-12-17

[2]

测量AR减反膜厚度和折射率的装置 [P].

朱峥嵘 ;

埃德加·吉尼奥 ;

赵连芳 .

中国专利 :CN203274688U ,2013-11-06

[3]

折射率的测量方法和折射率的测量装置 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN102435584B ,2012-05-02

[4]

折射率分布测量方法和折射率分布测量设备 [P].

加藤正磨 .

中国专利 :CN102297758A ,2011-12-28

[5]

折射率分布测量方法和折射率分布测量装置 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN102062677B ,2011-05-18

[6]

折射率分布测量方法和折射率分布测量设备 [P].

加藤正磨 .

中国专利 :CN101762376A ,2010-06-30

[7]

折射率分布测量方法和折射率分布测量装置 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN102918373B ,2013-02-06

[8]

同时测量双折射元件厚度及折射率的测量方法 [P].

张书练 ;

陈文学 ;

谈宜东 .

中国专利 :CN103196865A ,2013-07-10

[9]

渐变折射率减反薄膜及其制备方法和应用 [P].

杨金慧 ;

刘辉 ;

薄铁柱 ;

马婧 ;

李庆 ;

郑京明 ;

吕学良 ;

李开宇 ;

王乔 .

中国专利 :CN113278950A ,2021-08-20

[10]

测量薄膜厚度和折射率的方法及装置 [P].

黄佐华 ;

宋亚杰 .

中国专利 :CN102589452A ,2012-07-18

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