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半导体测试夹具
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201210068143.7
申请日
:
2012-03-15
公开(公告)号
:
CN102798738A
公开(公告)日
:
2012-11-28
发明(设计)人
:
鹿口直斗
池上雅明
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
闫小龙;王忠忠
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2013-01-23
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101383325727 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2012100681437 申请日:20120315
2015-01-07
授权
授权
2012-11-28
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体电流测试夹具
[P].
侯志刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
济南晶久电子科技有限公司
济南晶久电子科技有限公司
侯志刚
;
李广德
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
济南晶久电子科技有限公司
济南晶久电子科技有限公司
李广德
;
刘在军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
济南晶久电子科技有限公司
济南晶久电子科技有限公司
刘在军
.
中国专利
:CN221686448U
,2024-09-10
[2]
测试针头和半导体测试夹具
[P].
石磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石磊
.
中国专利
:CN104319247B
,2015-01-28
[3]
半导体器件测试夹具
[P].
邱显羣
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州锝耀电子有限公司
苏州锝耀电子有限公司
邱显羣
;
钱淼
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州锝耀电子有限公司
苏州锝耀电子有限公司
钱淼
;
王韦勋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州锝耀电子有限公司
苏州锝耀电子有限公司
王韦勋
.
中国专利
:CN222636204U
,2025-03-18
[4]
一种半导体测试夹具
[P].
郑英祥
论文数:
0
引用数:
0
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0
郑英祥
.
中国专利
:CN218240156U
,2023-01-06
[5]
一种半导体测试夹具
[P].
杨霖
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
李智菲
李智菲
杨霖
.
中国专利
:CN222553504U
,2025-03-04
[6]
半导体器件及老化测试夹具
[P].
黄祝阳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
泉州市三安光通讯科技有限公司
泉州市三安光通讯科技有限公司
黄祝阳
;
陈柏翰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
泉州市三安光通讯科技有限公司
泉州市三安光通讯科技有限公司
陈柏翰
.
中国专利
:CN223599238U
,2025-11-25
[7]
半导体的测试夹具及测试装置
[P].
何坤一
论文数:
0
引用数:
0
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0
何坤一
.
中国专利
:CN104752248A
,2015-07-01
[8]
一种半导体用测试夹具
[P].
雷久淮
论文数:
0
引用数:
0
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0
雷久淮
;
姚岛
论文数:
0
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0
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0
姚岛
;
雷禹
论文数:
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0
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0
雷禹
.
中国专利
:CN213225863U
,2021-05-18
[9]
一种半导体功率测试夹具
[P].
陈安明
论文数:
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0
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0
陈安明
;
张志平
论文数:
0
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0
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0
张志平
.
中国专利
:CN207123546U
,2018-03-20
[10]
半导体金属材料通用测试夹具
[P].
刘伟阳
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘伟阳
.
中国专利
:CN212471176U
,2021-02-05
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