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X射线检测器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811554772.4
申请日
:
2018-12-19
公开(公告)号
:
CN110034133A
公开(公告)日
:
2019-07-19
发明(设计)人
:
金姜佑
尹视藕
申世镇
申请人
:
申请人地址
:
韩国首尔
IPC主分类号
:
H01L27144
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
王萍;李彦丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-08-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/144 申请日:20181219
2019-07-19
公开
公开
共 50 条
[1]
X射线检测器
[P].
G·加西奥特
论文数:
0
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0
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G·加西奥特
;
S·特洛徐特
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S·特洛徐特
;
O·勒内尔
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O·勒内尔
;
V·马勒布
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V·马勒布
.
中国专利
:CN114518588A
,2022-05-20
[2]
X射线检测器
[P].
G·加西奥特
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0
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机构:
意法半导体法国公司
意法半导体法国公司
G·加西奥特
;
S·特洛徐特
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机构:
意法半导体法国公司
意法半导体法国公司
S·特洛徐特
;
O·勒内尔
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机构:
意法半导体法国公司
意法半导体法国公司
O·勒内尔
;
V·马勒布
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0
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机构:
意法半导体法国公司
意法半导体法国公司
V·马勒布
.
法国专利
:CN114518588B
,2025-03-04
[3]
X射线检测器及X射线检测器的制造方法
[P].
本间克久
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本间克久
;
会田博之
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会田博之
;
伊藤健一
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伊藤健一
;
藤泽晶子
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藤泽晶子
;
鬼桥浩志
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鬼桥浩志
.
中国专利
:CN100335914C
,2005-06-15
[4]
X射线检测器、X射线成像设备
[P].
成映勋
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成映勋
;
李载学
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李载学
;
姜东求
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姜东求
;
李在穆
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李在穆
.
中国专利
:CN104665855B
,2015-06-03
[5]
用于X射线检测器的阵列基板以及包括其的X射线检测器
[P].
尹载皓
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0
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0
尹载皓
.
中国专利
:CN107068701B
,2017-08-18
[6]
X射线检测器
[P].
朴钟曙
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朴钟曙
;
李雄
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李雄
.
中国专利
:CN110464372A
,2019-11-19
[7]
X射线检测器
[P].
尹载皓
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尹载皓
;
朴时亨
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朴时亨
;
姜汶秀
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姜汶秀
.
中国专利
:CN109994495A
,2019-07-09
[8]
X射线检测器
[P].
J·K·E·科迪治
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J·K·E·科迪治
;
P·J·霍恩
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P·J·霍恩
.
中国专利
:CN1161103A
,1997-10-01
[9]
X射线检测器
[P].
井上启史
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井上启史
;
钩吉秀
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钩吉秀
;
星野昌吾
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星野昌吾
.
中国专利
:CN300846046D
,2008-11-05
[10]
X射线检测器
[P].
西尔克·詹森
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西尔克·詹森
;
卡尔·施蒂尔斯托弗
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卡尔·施蒂尔斯托弗
.
中国专利
:CN101074993A
,2007-11-21
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