光学元件的高精度均匀数控抛光装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810051134.0

申请日：

2008-09-03

公开(公告)号：

CN101386145A

公开(公告)日：

2009-03-18

发明(设计)人：

王春阳聂凤明吴庆堂刘劲松王大森

申请人：

申请人地址：

130022吉林省长春市卫星路7089号长春理工大学电信学院

IPC主分类号：

B24B1304

IPC分类号：

代理机构：

吉林长春新纪元专利代理有限责任公司

代理人：

纪尚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-03-18	公开	公开
2011-01-05	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101058676789 IPC(主分类):B24B 13/04 专利申请号:2008100511340 公开日:20090318

共 50 条

[1]

光学元件的高精度均匀数控抛光装置 [P].

王春阳 ;

聂凤明 ;

吴庆堂 ;

刘劲松 ;

王大森 .

中国专利 :CN201244762Y ,2009-05-27

[2]

光学元件的高精度均匀数控抛光装置及方法 [P].

高海秀 .

中国专利 :CN117840823A ,2024-04-09

[3]

一种光学元件的高精度均匀数控抛光装置 [P].

崔王斌 .

中国专利 :CN213970400U ,2021-08-17

[4]

一种用于光学元件数控抛光机床 [P].

王春阳 ;

聂凤明 ;

吴庆堂 ;

刘劲松 ;

王大森 .

中国专利 :CN101386150B ,2009-03-18

[5]

一种用于光学元件数控抛光机床 [P].

王春阳 ;

聂凤明 ;

吴庆堂 ;

刘劲松 ;

王大森 .

中国专利 :CN201283534Y ,2009-08-05

[6]

光学元件的行星主动抛光装置 [P].

王大森 ;

聂凤明 ;

吴庆堂 ;

刘劲松 ;

王春阳 .

中国专利 :CN201244760Y ,2009-05-27

[7]

高精度光学元件抛光表面质量检测装置 [P].

梁育强 .

中国专利 :CN215572759U ,2022-01-18

[8]

一种光学元件的平面高精度抛光设备 [P].

徐健 .

中国专利 :CN114905369A ,2022-08-16

[9]

一种光学元件的平面高精度抛光设备 [P].

吴德国 .

中国专利 :CN210125945U ,2020-03-06

[10]

一种高精度光学元件抛光用夹具 [P].

余美红 .

中国专利 :CN217255203U ,2022-08-23

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