一种测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911240086.4

申请日：

2019-12-03

公开(公告)号：

CN111082880B

公开(公告)日：

2020-04-28

发明(设计)人：

陈谦益吴昌智谢光炜周小诗陈昆朴

申请人：

申请人地址：

430205 湖北省武汉市江夏区藏龙岛谭湖二路1号

IPC主分类号：

H04B1715

IPC分类号：

H04B1729 H04W2400

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

张睿

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-17	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):H04B 17/15 登记生效日:20201104 变更事项:申请人变更前权利人:武汉虹信通信技术有限责任公司变更后权利人:武汉虹信科技发展有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:430073 湖北省武汉市东湖高新技术开发区东信路5号变更后权利人:430205 湖北省武汉市江夏区藏龙岛谭湖二路1号
2020-04-28	公开	公开
2020-05-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/15 申请日:20191203
2022-04-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种射频测试系统及测试方法 [P].

郝国忠 ;

夏光平 ;

朱光华 ;

陈海燕 ;

张国义 ;

张洋 .

中国专利 :CN101848043A ,2010-09-29

[2]

一种测试方法、测试系统、控制设备及测试工装设备 [P].

付吉祥 ;

姜乃熔 .

中国专利 :CN119172010A ,2024-12-20

[3]

一种测试方法及测试系统 [P].

金方晓 ;

王莉 .

中国专利 :CN103716103B ,2014-04-09

[4]

一种天线测试系统及测试方法 [P].

曹宝华 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN111413553A ,2020-07-14

[5]

一种并行测试系统及测试方法 [P].

李廷勇 .

中国专利 :CN105376108A ,2016-03-02

[6]

测试方法及测试系统 [P].

崔俊健 ;

王安民 .

中国专利 :CN109991496B ,2019-07-09

[7]

测试方法及测试系统 [P].

潘鑫 .

中国专利 :CN115664560A ,2023-01-31

[8]

射频测试电路、射频测试系统及射频测试方法 [P].

阳东 ;

黄渊球 ;

莫阳和 .

中国专利 :CN119109525A ,2024-12-10

[9]

一种雷达系统的测试系统及测试方法 [P].

赵玮 .

中国专利 :CN106093897A ,2016-11-09

[10]

一种测试方法及测试系统 [P].

宋德甫 .

中国专利 :CN108519207A ,2018-09-11

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