一种高温材料法向光谱发射率测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010562419.8
申请日
2010-11-23
公开(公告)号
CN102042993A
公开(公告)日
2011-05-04
发明(设计)人
符泰然 谈鹏 曹阳 赵桓
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
IPC主分类号
G01N2500
IPC分类号
G01J328
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
王莹
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种材料法向光谱发射率测量装置 [P]. 
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施德恒 ;
朱遵略 ;
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[4]
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[8]
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[9]
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