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用于检查设备的照射源、检查设备和检查方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201780056418.6
申请日
:
2017-08-02
公开(公告)号
:
CN109716110B
公开(公告)日
:
2019-05-03
发明(设计)人
:
P·D·范福尔斯特
林楠
S·B·鲁博尔
S·G·J·马斯杰森
S·T·范德波斯特
申请人
:
申请人地址
:
荷兰维德霍温
IPC主分类号
:
G01N2195
IPC分类号
:
G03F720
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
王茂华;张宁
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-05-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20170802
2022-01-18
授权
授权
2019-05-03
公开
公开
共 50 条
[1]
用于检查设备的照射源、检查设备及检查方法
[P].
S·B·罗博尔
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S·B·罗博尔
;
S·G·J·马西森
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S·G·J·马西森
.
中国专利
:CN110268329A
,2019-09-20
[2]
检查设备的照射源、检查设备和检查方法
[P].
D·欧德威尔
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D·欧德威尔
;
P·W·斯摩奥伦堡
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P·W·斯摩奥伦堡
;
G·J·H·布鲁斯阿德
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G·J·H·布鲁斯阿德
.
中国专利
:CN112119355A
,2020-12-22
[3]
检查设备的照射源、检查设备和检查方法
[P].
D·欧德威尔
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
D·欧德威尔
;
P·W·斯摩奥伦堡
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
P·W·斯摩奥伦堡
;
G·J·H·布鲁斯阿德
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
G·J·H·布鲁斯阿德
.
:CN117452772A
,2024-01-26
[4]
用于检查设备的照射源、检查设备和检查方法
[P].
P·A·J·廷尼曼斯
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P·A·J·廷尼曼斯
;
林楠
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林楠
;
S·B·鲁博尔
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S·B·鲁博尔
;
S·G·J·马斯杰森
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S·G·J·马斯杰森
.
中国专利
:CN109478019A
,2019-03-15
[5]
用于检查容器的检查设备和检查方法
[P].
克里斯托夫·威尔
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克里斯托夫·威尔
.
中国专利
:CN113692532A
,2021-11-23
[6]
检查设备和检查方法
[P].
康克军
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康克军
;
程建平
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程建平
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陈志强
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陈志强
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赵自然
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赵自然
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李君利
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李君利
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王学武
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王学武
;
曾志
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曾志
;
曾鸣
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曾鸣
;
王义
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王义
;
张清军
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张清军
;
顾建平
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顾建平
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易茜
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易茜
;
刘必成
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刘必成
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徐光明
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徐光明
;
王永强
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王永强
.
中国专利
:CN108169254A
,2018-06-15
[7]
检查设备、检查方法和检查系统
[P].
张丽
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
张丽
;
陈志强
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
陈志强
;
李元景
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李元景
;
黄清萍
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
黄清萍
;
冯博
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
冯博
;
张立国
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
张立国
;
李桂培
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李桂培
;
何志锋
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
何志锋
;
常铭
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机构:
同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
常铭
.
中国专利
:CN118707613A
,2024-09-27
[8]
检查方法和检查设备
[P].
张健
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张健
;
赵占永
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赵占永
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顾建平
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顾建平
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刘耀红
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刘耀红
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赵自然
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赵自然
.
中国专利
:CN108734183A
,2018-11-02
[9]
检查系统、检查设备和检查设备的控制方法
[P].
林公生
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林公生
.
中国专利
:CN113805820A
,2021-12-17
[10]
检查设备和检查方法
[P].
三谷均
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三谷均
;
若园雅史
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若园雅史
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中国专利
:CN109565578B
,2019-04-02
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