一种球体颗粒体系法向接触力和法向位移的测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810224974.6

申请日：

2018-03-19

公开(公告)号：

CN108535147B

公开(公告)日：

2018-09-14

发明(设计)人：

单鹏刘军赵伏田程毅刘明清刘光昆肖治民蓝鹏张超金胜兵

申请人：

申请人地址：

211100 江苏省南京市江宁开发区佛城西路8号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01D2102

代理机构：

南京经纬专利商标代理有限公司 32200

代理人：

韩莲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-14	公开	公开
2021-03-23	授权	授权
2018-10-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/00 申请日:20180319

共 50 条

[1]

一种球体颗粒体系受冲击作用下的法向接触力测试方法 [P].

单鹏 ;

刘军 ;

程毅 ;

刘明清 ;

刘光昆 ;

赵伏田 ;

肖治民 ;

蓝鹏 ;

张超 ;

金胜兵 .

中国专利 :CN108535146B ,2018-09-14

[2]

接触力测量装置和使用接触力测量装置测量接触力的方法 [P].

R·斯托布 ;

A·莱曼 ;

克劳迪奥·卡瓦洛尼 .

中国专利 :CN112129442A ,2020-12-25

[3]

一种三向接触力测量装置 [P].

张大义 ;

孙赫 ;

吴亚光 ;

张启成 .

中国专利 :CN118464267A ,2024-08-09

[4]

一种三向接触力测量装置 [P].

张大义 ;

孙赫 ;

吴亚光 ;

张启成 .

中国专利 :CN118464267B ,2025-10-28

[5]

接触式法向测量装置 [P].

李东栓 ;

宣东军 .

中国专利 :CN104165610A ,2014-11-26

[6]

接触式法向测量装置 [P].

李东栓 .

中国专利 :CN204064269U ,2014-12-31

[7]

一种接触式法向测量装置 [P].

柯映林 ;

李江雄 ;

董辉跃 .

中国专利 :CN113124812A ,2021-07-16

[8]

一种基于法向接触力变化的打磨工艺参数自适应方法 [P].

李春泉 ;

姚凯文 ;

陈义洁 ;

朱文德 ;

刘家风 ;

陈庚 ;

刘小平 .

中国专利 :CN115374700B ,2025-08-22

[9]

一种基于法向接触力变化的打磨工艺参数自适应方法 [P].

李春泉 ;

姚凯文 ;

陈义洁 ;

朱文德 ;

刘家风 ;

陈庚 ;

刘小平 .

中国专利 :CN115374700A ,2022-11-22

[10]

一种利用光纤干涉法测量受电弓接触力的装置 [P].

封彦舟 ;

王政 .

中国专利 :CN112763111A ,2021-05-07

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