自动测试电路、自动测试仪表及自动测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010937153.4

申请日：

2020-09-08

公开(公告)号：

CN112114244B

公开(公告)日：

2020-12-22

发明(设计)人：

刘小雄林海亮罗光辉周勤勉

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至五层;在宝安区石岩街道松白路创维数字大厦403A室设有办公场所

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R1512 G01R1067 G01R104

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

刘冰

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-22	公开	公开
2021-01-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200908
2022-08-02	授权	授权
2021-01-29	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人变更前:深圳市拓普泰克电子有限公司变更后:深圳市拓普泰克技术股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至六层变更后:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至五层；在宝安区石岩街道松白路创维数字大厦403A室设有办公场所

共 50 条

[1]

自动测试系统及自动测试方法 [P].

张剑 .

中国专利 :CN105021922B ,2015-11-04

[2]

自动测试系统及自动测试方法 [P].

吴群 ;

陈雪锋 ;

薛冬锐 .

中国专利 :CN110297772A ,2019-10-01

[3]

自动测试系统及自动测试方法 [P].

吴克礼 .

中国专利 :CN101714115A ,2010-05-26

[4]

自动测试系统 [P].

黄金亮 .

中国专利 :CN202166702U ,2012-03-14

[5]

仪表自动测试系统 [P].

韦宏霞 .

中国专利 :CN205484583U ,2016-08-17

[6]

自动测试系统及其自动测试方法 [P].

张倍铭 .

中国专利 :CN102087626B ,2011-06-08

[7]

自动测试系统和自动测试方法 [P].

徐耀德 ;

谢良彬 ;

李宛平 ;

李庆华 .

中国专利 :CN103984611A ,2014-08-13

[8]

自动测试系统和自动测试方法 [P].

魏文浩 ;

吕宇轩 ;

赖永康 ;

梅健 ;

冯慈铵 ;

黄嘉荣 ;

陈炳红 ;

王伟 .

中国专利 :CN113391143B ,2021-09-14

[9]

自动测试系统 [P].

蔡青春 .

中国专利 :CN202916405U ,2013-05-01

[10]

自动测试系统 [P].

蔡青春 .

中国专利 :CN102928769A ,2013-02-13

← 1 2 3 4 5 →