测试装置

被引：0

申请号：

CN202220006912.X

申请日：

2022-01-04

公开(公告)号：

CN217425617U

公开(公告)日：

2022-09-13

发明(设计)人：

王世新代康伟

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区东环中路5号12幢1层

IPC主分类号：

G01R3136

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

欧阳高凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置 [P].

谢伟藩 ;

肖银良 .

中国专利 :CN211401670U ,2020-09-01

[2]

测试装置 [P].

郁荣华 ;

韩奕奕 ;

柴姝雯 ;

陆仲斐 .

中国专利 :CN204461988U ,2015-07-08

[3]

测试装置 [P].

丁江连 ;

冯玉川 ;

李峥 ;

何泓材 .

中国专利 :CN221485027U ,2024-08-06

[4]

测试装置 [P].

陈恒毅 ;

叶俊谷 .

中国专利 :CN210005468U ,2020-01-31

[5]

测试装置 [P].

余家军 ;

袁彬 ;

余兵 ;

张连兴 ;

张泽勋 .

中国专利 :CN208333813U ,2019-01-04

[6]

电池包挤压测试装置 [P].

贾宇坤 ;

任飞 ;

孙艳 ;

曹宇波 .

中国专利 :CN218271661U ,2023-01-10

[7]

跌落测试装置 [P].

翁德平 .

中国专利 :CN200975936Y ,2007-11-14

[8]

马达测试装置 [P].

罗庆 ;

罗世培 ;

聂龙华 ;

沈军 ;

叶富强 ;

刘刚 ;

庞平 .

中国专利 :CN204925355U ,2015-12-30

[9]

弹力测试装置 [P].

邬雪林 .

中国专利 :CN212807841U ,2021-03-26

[10]

芯片测试装置 [P].

邓良俊 .

中国专利 :CN212781094U ,2021-03-23

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