彩色特性测量装置和彩色特性测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN97181837.1

申请日：

1997-12-18

公开(公告)号：

CN1212023C

公开(公告)日：

2000-03-01

发明(设计)人：

杉浦博明久野彻也林纯一郎山本清贵西村吉邦

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

H04N1702

IPC分类号：

H04N904 H04N967

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

杨凯;叶凯东

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101646087407 IPC(主分类):H04N 17/02 专利号:ZL971818371 申请日:19971218 授权公告日:20050720 终止日期:20141218
2000-03-08	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效
2005-07-20	授权	授权
2000-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

特性测量装置和特性测量方法 [P].

徐瑨 ;

吴世允 ;

李锺焕 ;

千圣贤 .

中国专利 :CN112484653A ,2021-03-12

[2]

光纤特性测量装置和光纤特性测量方法 [P].

古川靖 .

中国专利 :CN109974973A ,2019-07-05

[3]

电特性测量用样本、电特性测量装置和电特性测量方法 [P].

町田贤三 ;

大森真二 ;

林义人 ;

马尔科雷勒·布兰 .

中国专利 :CN108603853B ,2018-09-28

[4]

天线特性测量系统和天线特性测量方法 [P].

宫田邦行 .

中国专利 :CN102375097A ,2012-03-14

[5]

配光特性测量装置和配光特性测量方法 [P].

江南世志 .

中国专利 :CN103364177B ,2013-10-23

[6]

分光特性测量方法以及分光特性测量装置 [P].

佐野弘幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN102680097B ,2012-09-19

[7]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[8]

分光特性测量装置以及分光特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN104145177B ,2014-11-12

[9]

镜片特性测量装置及镜片特性测量方法 [P].

杂贺诚 .

中国专利 :CN109556834B ,2019-04-02

[10]

光纤特性测量装置以及光纤特性测量方法 [P].

松浦聪 ;

熊谷芳宏 .

日本专利 :CN119998632A ,2025-05-13

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