校准装置、校准方法及校准程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480071352.4

申请日：

2014-12-24

公开(公告)号：

CN105874350B

公开(公告)日：

2016-08-17

发明(设计)人：

迪伦·弗尔柴尔德·格拉斯弗洛伦特·费雷里宫下敬宏

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01S7497

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

权太白;谢丽娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101692559748 IPC(主分类):G01S 7/497 专利申请号:2014800713524 申请日:20141224
2018-08-28	授权	授权
2016-08-17	公开	公开

共 50 条

[1]

校准装置、校准方法、程序和校准系统及校准目标 [P].

山本英明 .

中国专利 :CN113167859A ,2021-07-23

[2]

校准装置、校准方法以及校准程序 [P].

金野翔太 ;

片山贵登 .

中国专利 :CN115597650A ,2023-01-13

[3]

校准方法及校准装置 [P].

山岸裕幸 ;

桂豪 ;

中川研治 .

中国专利 :CN109153249A ,2019-01-04

[4]

校准装置、校准方法和程序 [P].

梁承夏 ;

青木卓 ;

佐藤竜太 .

中国专利 :CN111670572A ,2020-09-15

[5]

校准装置、校准方法以及校准程序存储介质 [P].

坂野盛彦 ;

佐藤启二 .

中国专利 :CN108141570B ,2018-06-08

[6]

校准方法、校准系统及程序 [P].

殿谷德和 .

中国专利 :CN109382821A ,2019-02-26

[7]

校准系统、校准装置以及程序 [P].

永井浩大 ;

出石聪史 ;

上松干夫 .

日本专利 :CN113518903B ,2024-03-15

[8]

校准系统、校准装置以及程序 [P].

永井浩大 ;

出石聪史 ;

上松干夫 .

中国专利 :CN113518903A ,2021-10-19

[9]

校准装置及校准方法 [P].

张佑先 ;

赖钰铭 ;

郑景嘉 ;

洪伟凯 ;

陈奕竹 ;

陈宗明 ;

颜仕杰 .

中国专利 :CN110729972A ,2020-01-24

[10]

校准装置及校准方法 [P].

茅兴飞 ;

黄海涛 ;

李岩 ;

许金基 .

中国专利 :CN114300404B ,2025-10-10

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