光学测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280068385.4

申请日：

2012-11-15

公开(公告)号：

CN104081221A

公开(公告)日：

2014-10-01

发明(设计)人：

H.贝哈 P.霍瓦思 J.尼古莱

申请人：

申请人地址：

德国比蒂希海姆-比辛根

IPC主分类号：

G01S7481

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

葛青

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-10-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587979980 IPC(主分类):G01S 7/481 专利申请号:2012800683854 申请日:20121115
2017-01-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101744752459 IPC(主分类):G01S 7/481 专利申请号:2012800683854 申请公布日:20141001
2014-10-01	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量装置和用于光学测量的方法 [P].

V·萨为普朗斯莱泊恩 ;

M·I·B·M·卡西姆 .

中国专利 :CN103327886A ,2013-09-25

[2]

光学测量装置以及光学测量系统 [P].

后野和弘 .

中国专利 :CN103857999B ,2014-06-11

[3]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[4]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[5]

光学测量装置 [P].

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN104515739B ,2015-04-15

[6]

光学测量装置 [P].

杨延竹 ;

陈祺坤 ;

张旭堂 ;

于波 ;

张华 .

中国专利 :CN215524512U ,2022-01-14

[7]

光学测量装置 [P].

森野久康 ;

的场贤一 ;

菅孝博 .

中国专利 :CN110672034A ,2020-01-10

[8]

光学测量装置 [P].

王雄涛 ;

李梅玉 ;

李蕊 ;

史孟丹 .

中国专利 :CN205537687U ,2016-08-31

[9]

光学测量装置 [P].

汪睿 ;

王永超 .

中国专利 :CN216593243U ,2022-05-24

[10]

光学测量装置 [P].

克里斯托夫·迪茨 .

德国专利 :CN112432600B ,2024-04-26

← 1 2 3 4 5 →