一种集成电路分选机测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520731943.1

申请日：

2015-09-21

公开(公告)号：

CN205074246U

公开(公告)日：

2016-03-09

发明(设计)人：

鲍军其赵轶刘聪韩笑

申请人：

申请人地址：

310000 浙江省杭州市滨江区滨安路1197号6幢420室

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

代理机构：

杭州杭诚专利事务所有限公司 33109

代理人：

尉伟敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-09	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路分选机测试装置 [P].

鲍军其 ;

赵轶 ;

刘聪 ;

韩笑 .

中国专利 :CN105268651A ,2016-01-27

[2]

一种分选机测试装置 [P].

鲍军其 ;

刘聪 ;

杨虎 ;

赵轶 ;

韩笑 ;

姜佳力 .

中国专利 :CN205074252U ,2016-03-09

[3]

一种集成电路测试分选机 [P].

柯武生 ;

王桂桂 ;

黄崇城 ;

张进国 .

中国专利 :CN211989793U ,2020-11-24

[4]

一种集成电路测试分选机 [P].

洪彬玉 .

中国专利 :CN208527376U ,2019-02-22

[5]

一种集成电路测试分选机 [P].

陈少宽 ;

曾建阳 ;

曾振崇 .

中国专利 :CN208574974U ,2019-03-05

[6]

一种集成电路测试分选机 [P].

黄伟华 .

中国专利 :CN214184110U ,2021-09-14

[7]

集成电路测试分选机分类装置 [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09

[8]

QFN集成电路测试分选机流道旋转脱离测试装置 [P].

陈慧峰 ;

李亚峰 ;

王晓华 ;

曾坤灿 ;

徐建春 .

中国专利 :CN201637816U ,2010-11-17

[9]

一种集成电路分选机测试位挡板装置 [P].

周淳 .

中国专利 :CN204575807U ,2015-08-19

[10]

集成电路测试分选机 [P].

班华 ;

王晓军 ;

陈涛 .

中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21

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