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用于生成X射线辐射的X射线源装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201880007493.8
申请日
:
2018-01-19
公开(公告)号
:
CN110199575A
公开(公告)日
:
2019-09-03
发明(设计)人
:
O·沃伊沃德
D·巴尔特
A·根西奥
J·韦伯
申请人
:
申请人地址
:
荷兰艾恩德霍芬
IPC主分类号
:
H05G122
IPC分类号
:
H05G132
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
:
李光颖
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-09-03
公开
公开
2020-02-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H05G 1/22 申请日:20180119
共 50 条
[1]
X射线源和X射线成像装置
[P].
R·斯特德曼布克
论文数:
0
引用数:
0
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0
R·斯特德曼布克
;
G·福格特米尔
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0
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G·福格特米尔
.
中国专利
:CN112005332A
,2020-11-27
[2]
X射线源和X射线成像装置
[P].
R·斯特德曼布克
论文数:
0
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0
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0
机构:
皇家飞利浦有限公司
皇家飞利浦有限公司
R·斯特德曼布克
;
G·福格特米尔
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
皇家飞利浦有限公司
皇家飞利浦有限公司
G·福格特米尔
.
:CN112005332B
,2025-01-24
[3]
X射线源和用于控制X射线辐射的方法
[P].
卡尔曼·费什曼
论文数:
0
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卡尔曼·费什曼
;
布莱恩·帕特里克·威尔弗莱
论文数:
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布莱恩·帕特里克·威尔弗莱
;
克里斯托弗·W·埃勒诺
论文数:
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克里斯托弗·W·埃勒诺
;
唐纳德·奥尔加多
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唐纳德·奥尔加多
;
顾纯元
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顾纯元
;
托比亚斯·芬克
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托比亚斯·芬克
;
佩特·瓦塔霍夫
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佩特·瓦塔霍夫
;
克里斯托弗·R·米切尔
论文数:
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克里斯托弗·R·米切尔
.
中国专利
:CN110382047B
,2019-10-25
[4]
X射线源以及用于产生X射线辐射的方法
[P].
比约恩·汉森
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比约恩·汉森
;
波尔·塔克曼
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波尔·塔克曼
;
王育立
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王育立
;
田中志穂
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0
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0
田中志穂
.
中国专利
:CN111542906A
,2020-08-14
[5]
用于测量辐射的X射线源
[P].
R·K·O·贝林
论文数:
0
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R·K·O·贝林
.
中国专利
:CN101689464A
,2010-03-31
[6]
X射线源辐射装置
[P].
郭思明
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郭思明
;
宋瑞强
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宋瑞强
;
吴金杰
论文数:
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0
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吴金杰
.
中国专利
:CN111487673A
,2020-08-04
[7]
用于保护X射线源的方法以及X射线源
[P].
汤米·图希玛
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汤米·图希玛
;
波尔·塔克曼
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波尔·塔克曼
;
丹尼尔·拉尔森
论文数:
0
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0
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0
丹尼尔·拉尔森
.
中国专利
:CN111713182A
,2020-09-25
[8]
X射线源
[P].
爱德华·J.·摩顿
论文数:
0
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爱德华·J.·摩顿
;
拉塞尔·D.·卢加
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0
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拉塞尔·D.·卢加
;
保罗·德·安东尼斯
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0
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0
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保罗·德·安东尼斯
.
中国专利
:CN1781178A
,2006-05-31
[9]
X射线源
[P].
古木裕记
论文数:
0
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
古木裕记
;
石井淳
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
石井淳
;
田口达也
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
田口达也
;
田村绫斗
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
田村绫斗
.
日本专利
:CN223142191U
,2025-07-22
[10]
X射线源
[P].
伊藤通浩
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0
伊藤通浩
.
中国专利
:CN1994028A
,2007-07-04
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