光学测量方法

被引：0

申请号：

CN202210667770.6

申请日：

2022-06-14

公开(公告)号：

CN115077398A

公开(公告)日：

2022-09-20

发明(设计)人：

梁洪涛张戎张厚道张晓雷张云施耀明

申请人：

申请人地址：

201702 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

G01B1100

代理机构：

上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286

代理人：

黄海霞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量方法 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张晓雷 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN115077398B ,2025-08-12

[2]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762B ,2024-03-29

[3]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762A ,2022-04-12

[4]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[5]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

[6]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

陈大志 ;

郑媛 ;

孙晓伟 ;

史伟杰 .

中国专利 :CN102645437A ,2012-08-22

[7]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

中国专利 :CN112710634A ,2021-04-27

[8]

光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

德国专利 :CN111721230B ,2024-06-04

[9]

光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

中国专利 :CN111721230A ,2020-09-29

[10]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

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