LED光学特性检测方法及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110191200.6

申请日：

2011-07-08

公开(公告)号：

CN102865999A

公开(公告)日：

2013-01-09

发明(设计)人：

陈鲁夏洋张超前张学一

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01R3144

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

骆苏华

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

共 50 条

[1]

光纤设备的光学特性检测方法、检测装置及检测系统 [P].

后藤正宪 ;

深井勉 ;

大西雅裕 .

中国专利 :CN101113939A ,2008-01-30

[2]

曲面显示面板的光学特性检测装置及检测方法 [P].

吴雪梅 ;

党鹏乐 ;

陈兆礼 ;

雷博琳 .

中国专利 :CN111982474B ,2020-11-24

[3]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[4]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[5]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

王珂 .

中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21

[6]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

张凌宇 .

中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18

[7]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

周上杰 ;

江雅雯 .

中国专利 :CN101487934B ,2009-07-22

[8]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[9]

光学检测装置及检测方法 [P].

郭京 ;

左珊 ;

魏育五 ;

张晓杰 ;

郭佳 ;

李明秋 ;

石金贵 .

中国专利 :CN102156037A ,2011-08-17

[10]

负载特性检测方法及检测装置 [P].

何勇吉 ;

张安羊 ;

程扬 ;

温海涛 ;

方雅伦 .

中国专利 :CN113030579A ,2021-06-25

← 1 2 3 4 5 →

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-04	授权	授权
2021-02-12	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01M 11/02 变更事项:专利权人变更前:深圳中科飞测科技有限公司变更后:深圳中科飞测科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市龙华区大浪街道大浪工业园路1号凯豪达广场办公室A区1618室变更后:518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
2013-02-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101397921444 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2011101912006 申请日:20110708
2015-04-15	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101713617761 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2011101912006 变更事项:专利权人变更前权利人:中国科学院微电子研究所变更后权利人:深圳中科飞测科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:100029 北京市朝阳区北土城西路3号变更后权利人:518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道侨香路3085号岭南大厦3层8号登记生效日:20150323
2013-01-09	公开	公开
2018-03-23	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01M 11/02 变更事项:专利权人变更前:深圳中科飞测科技有限公司变更后:深圳中科飞测科技有限公司变更事项:地址变更前:518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道侨香路3085号岭南大厦3层8号变更后:518000 广东省深圳市龙华区大浪街道大浪工业园路1号凯豪达广场办公室A区1618室