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一种勘测用位移测量装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010853125.4
申请日：
2020-08-22
公开(公告)号：
CN112050712B
公开(公告)日：
2020-12-08
发明(设计)人：
李友兴
洪埠
申请人：
申请人地址：
518051 广东省深圳市南山区招商街道蛇口荔园路2号华力综合楼2楼
IPC主分类号：
G01B502
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-16 | 授权 | 授权 |
| 2020-12-25 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 5/02 申请日:20200822 |
| 2020-12-08 | 公开 | 公开 |