测试用例管理方法、装置及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010902087.7

申请日：

2020-09-01

公开(公告)号：

CN112148593A

公开(公告)日：

2020-12-29

发明(设计)人：

刘文静

申请人：

申请人地址：

311100 浙江省杭州市余杭区五常街道五常大道175号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315

代理人：

姚琳洁;朱文杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-29	公开	公开
2021-01-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200901

共 50 条

[1]

测试用例管理方法、装置及设备 [P].

刘文静 .

中国专利 :CN112148593B ,2024-04-19

[2]

测试用例管理方法及装置 [P].

陈传超 ;

胡仁义 ;

颜伟 .

中国专利 :CN107291610A ,2017-10-24

[3]

测试用例管理方法及装置 [P].

齐武波 ;

潘禹霖 ;

张世富 ;

徐茂红 ;

李丹 ;

柳英迪 .

中国专利 :CN107729251A ,2018-02-23

[4]

测试用例管理方法和测试用例管理系统 [P].

贝克·陈 ;

本杰明·约勒 ;

吉拉达·埃克莱斯顿 ;

安东尼奥·廷达·费尔南德斯 ;

詹姆斯·卡明 ;

西里尔·库尔多 ;

海赛姆·艾哈迈德 .

日本专利 :CN119512923A ,2025-02-25

[5]

芯片测试用例管理方法及装置 [P].

罗灏文 .

中国专利 :CN113094277A ,2021-07-09

[6]

测试用例管理方法和装置 [P].

尚鸿 ;

熊彪 .

中国专利 :CN106776348B ,2017-05-31

[7]

一种测试用例管理方法、装置、设备及介质 [P].

李洋 ;

黄晶 ;

金朱黎 .

中国专利 :CN113220561A ,2021-08-06

[8]

测试用例管理方法、装置、计算设备及存储介质 [P].

李涛 ;

金佳斌 .

中国专利 :CN115328816A ,2022-11-11

[9]

测试用例管理方法、装置、设备、介质及程序产品 [P].

梁北海 ;

曾夏 ;

姚良超 ;

夏凡 .

中国专利 :CN117555782A ,2024-02-13

[10]

测试用例管理方法、装置、设备和存储介质 [P].

范宽帅 ;

刘坤 .

中国专利 :CN112749093A ,2021-05-04

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