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一种增透膜剩余反射率测试陪片
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111614583.3
申请日
:
2021-12-27
公开(公告)号
:
CN114252397A
公开(公告)日
:
2022-03-29
发明(设计)人
:
武艳青
杨红伟
李丰
王英顺
车相辉
程义涛
封嘉纯
崔绍晖
张维会
刘雨佳
黄乐乐
张晓松
张向立
申请人
:
申请人地址
:
050051 河北省石家庄市合作路113号
IPC主分类号
:
G01N2101
IPC分类号
:
G01N2155
G01N2184
代理机构
:
石家庄国为知识产权事务所 13120
代理人
:
张贵勤
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20211227
2022-03-29
公开
公开
共 50 条
[1]
一种增透膜剩余反射率测试陪片
[P].
武艳青
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机构:
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
武艳青
;
杨红伟
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
杨红伟
;
李丰
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
李丰
;
王英顺
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
王英顺
;
车相辉
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
车相辉
;
程义涛
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
程义涛
;
封嘉纯
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
封嘉纯
;
崔绍晖
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
崔绍晖
;
张维会
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
张维会
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刘雨佳
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
刘雨佳
;
黄乐乐
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
黄乐乐
;
张晓松
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
张晓松
;
张向立
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中国电子科技集团公司第十三研究所
中国电子科技集团公司第十三研究所
张向立
.
中国专利
:CN114252397B
,2024-06-11
[2]
一种超低反射率的光学增透膜
[P].
陈建军
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陈建军
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于百华
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于百华
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吕强
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吕强
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朱晓强
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朱晓强
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孔旭东
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孔旭东
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王玉
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王玉
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姚宏辉
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姚宏辉
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王浩
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王浩
.
中国专利
:CN213814005U
,2021-07-27
[3]
一种超低反射率的光学增透膜
[P].
陈建军
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陈建军
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于百华
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于百华
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吕强
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吕强
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朱晓强
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朱晓强
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孔旭东
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孔旭东
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王玉
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王玉
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姚宏辉
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姚宏辉
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王浩
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王浩
.
中国专利
:CN112198565A
,2021-01-08
[4]
一种超低反射率的光学增透膜
[P].
陈建军
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
陈建军
;
于百华
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
于百华
;
吕强
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
吕强
;
朱晓强
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
朱晓强
;
孔旭东
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
孔旭东
;
王玉
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
王玉
;
姚宏辉
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
姚宏辉
;
王浩
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中山联合光电研究院有限公司
中山联合光电研究院有限公司
王浩
.
中国专利
:CN112198565B
,2024-12-24
[5]
一种超低反射率的光学增透膜
[P].
郭滨刚
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郭滨刚
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屈立军
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屈立军
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闫兴伍
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闫兴伍
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熊辉
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熊辉
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巫肇梅
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巫肇梅
.
中国专利
:CN216118073U
,2022-03-22
[6]
一种宽波段超低反射率的增透膜
[P].
何晓虎
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何晓虎
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曹建宁
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曹建宁
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中国专利
:CN109856707A
,2019-06-07
[7]
一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法
[P].
季一勤
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季一勤
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刘丹丹
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刘丹丹
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刘华松
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刘华松
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姜承慧
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姜承慧
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赵志宏
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赵志宏
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庄克文
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庄克文
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冷健
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冷健
.
中国专利
:CN104501958A
,2015-04-08
[8]
一种超低剩余反射率ZnS基底长波减反射薄膜
[P].
刘华松
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刘华松
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杨霄
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杨霄
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孙鹏
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孙鹏
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冷健
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冷健
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季一勤
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季一勤
.
中国专利
:CN106443841B
,2017-02-22
[9]
一种高反射率的陶瓷荧光片
[P].
张文阳
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张文阳
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中国专利
:CN217361618U
,2022-09-02
[10]
一种液晶器件动态反射率的测试系统及方法
[P].
李昆
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机构:
剑芯光电(苏州)有限公司
剑芯光电(苏州)有限公司
李昆
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龙震
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剑芯光电(苏州)有限公司
剑芯光电(苏州)有限公司
龙震
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杨诗怡
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机构:
剑芯光电(苏州)有限公司
剑芯光电(苏州)有限公司
杨诗怡
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李雪锋
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机构:
剑芯光电(苏州)有限公司
剑芯光电(苏州)有限公司
李雪锋
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杨海宁
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机构:
剑芯光电(苏州)有限公司
剑芯光电(苏州)有限公司
杨海宁
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中国专利
:CN117572677A
,2024-02-20
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