涡旋光的干涉测量方法与系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201511000590.9

申请日：

2015-12-25

公开(公告)号：

CN105509902A

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

郭邦红郭建军范榕华张文杰王钰张立涛张盼盼

申请人：

申请人地址：

510631 广东省广州市天河区中山大道西55号

IPC主分类号：

G01J902

IPC分类号：

代理机构：

广州圣理华知识产权代理有限公司 44302

代理人：

顿海舟;王鸽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101660901995 IPC(主分类):G01J 9/02 专利申请号:2015110005909 申请日:20151225
2018-10-19	授权	授权
2020-02-07	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01J 9/02 登记生效日:20200114 变更事项:专利权人变更前权利人:华南师范大学变更后权利人:广东尤科泊得科技发展有限公司变更事项:地址变更前权利人:510631 广东省广州市天河区中山大道西55号变更后权利人:510000 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城伴绿路11号A梯首层A105房
2016-04-20	公开	公开

共 50 条

[1]

干涉测量方法和干涉测量系统 [P].

B·多班德 .

德国专利 :CN117685872A ,2024-03-12

[2]

一种涡旋光的干涉测量装置 [P].

郭建军 ;

郭邦红 ;

范榕华 ;

张文杰 ;

王钰 ;

张立涛 ;

张盼盼 .

中国专利 :CN205388516U ,2016-07-20

[3]

干涉测量系统以及干涉测量方法 [P].

符建 ;

刘旭 ;

匡翠方 ;

丁志华 .

中国专利 :CN120489354A ,2025-08-15

[4]

干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统 [P].

路伟涛 ;

任天鹏 ;

陈略 .

中国专利 :CN115308681A ,2022-11-08

[5]

干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统 [P].

路伟涛 ;

任天鹏 ;

陈略 .

中国专利 :CN115308681B ,2025-04-11

[6]

一种基于双共轭涡旋光干涉的位移测量系统及测量方法 [P].

李家奇 ;

张嘉君 .

中国专利 :CN118168461A ,2024-06-11

[7]

基于复合涡旋光干涉的透镜曲率半径测量方法 [P].

成哲 .

中国专利 :CN108895987A ,2018-11-27

[8]

基于涡旋光干涉的角度传感装置及测量方法 [P].

殷澄 ;

殷钰涵 ;

靳荣果 ;

束叶子 ;

束石 ;

靳琪琳 ;

束昊昱 .

中国专利 :CN115900597B ,2025-12-23

[9]

基于复合涡旋光干涉的透镜曲率半径测量方法 [P].

袁孝 ;

成哲 ;

高帆 ;

张翔 ;

熊宝星 .

中国专利 :CN109724538A ,2019-05-07

[10]

一种基于涡旋光干涉的二维微位移测量系统及测量方法 [P].

汪园香 ;

贺鑫磊 ;

窦健泰 .

中国专利 :CN118328859A ,2024-07-12

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