光学元件激光损伤阈值的探测方法及其装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810007917.9

申请日：

2008-02-19

公开(公告)号：

CN101226148A

公开(公告)日：

2008-07-23

发明(设计)人：

高智星汤秀章向益淮

申请人：

申请人地址：

102413北京市275信箱65分箱

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N21958

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-07-23	公开	公开
2010-06-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学元件的激光损伤阈值检测装置及方法 [P].

王可 ;

史明忠 .

中国专利 :CN119043666A ,2024-11-29

[2]

光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P].

朱玲琳 ;

曾爱军 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN115615672B ,2024-02-06

[3]

光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P].

朱玲琳 ;

曾爱军 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN115615672A ,2023-01-17

[4]

薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置 [P].

苏俊宏 ;

徐均琪 ;

梁海锋 ;

杨利红 ;

惠迎雪 ;

杭凌侠 ;

朱昌 .

中国专利 :CN201622245U ,2010-11-03

[5]

光学晶体元件激光损伤阈值检测装置 [P].

陈明君 ;

李明全 ;

姜伟 ;

姜文斌 ;

陈宽能 .

中国专利 :CN101706444A ,2010-05-12

[6]

一种提高光学元件激光损伤阈值的方法 [P].

钟强 ;

马新建 ;

吴先云 ;

廖洪平 ;

陈伟 ;

陈秋华 .

中国专利 :CN112526649A ,2021-03-19

[7]

光学元件体内激光损伤自动快速探测装置 [P].

胡国行 ;

赵元安 ;

易葵 ;

李大伟 ;

刘晓凤 ;

柯立松 .

中国专利 :CN103278309B ,2013-09-04

[8]

薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法 [P].

苏俊宏 ;

徐均琪 ;

梁海锋 ;

杨利红 ;

惠迎雪 ;

杭凌侠 ;

朱昌 .

中国专利 :CN101718712B ,2010-06-02

[9]

光学元件体内激光损伤在线探测方法和装置 [P].

胡国行 ;

赵元安 ;

李大伟 ;

刘晓凤 ;

柯立公 .

中国专利 :CN102841055A ,2012-12-26

[10]

一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P].

单翀 ;

夏兰 ;

冯伟 ;

李福建 ;

赵晓晖 ;

饶大幸 ;

崔勇 ;

季来林 ;

高妍琦 ;

赵元安 ;

刘晓凤 .

中国专利 :CN114486190A ,2022-05-13

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