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检测电路与使用该检测电路的半导体装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201110040545.1
申请日：
2011-02-09
公开(公告)号：
CN102193063B
公开(公告)日：
2011-09-21
发明(设计)人：
山本和也
浅田智之
宫下美代
申请人：
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01R31316
IPC分类号：
H03F324
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人：
何欣亭;王忠忠
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-04-30 | 授权 | 授权 |
| 2011-11-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101141113548 IPC(主分类):G01R 31/316 专利申请号:2011100405451 申请日:20110209 |
| 2019-03-12 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/316 登记生效日:20190220 变更事项:专利权人 变更前权利人:三菱电机株式会社 变更后权利人:株式会社村田制作所 变更事项:地址 变更前权利人:日本东京都 变更后权利人:日本京都府 |
| 2011-09-21 | 公开 | 公开 |