学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种接触电阻测量装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820244380.7
申请日
:
2018-02-10
公开(公告)号
:
CN207894998U
公开(公告)日
:
2018-09-21
发明(设计)人
:
张晓辉
张爱华
武然
申请人
:
申请人地址
:
101300 北京市顺义区顺强路1号3幢2层东侧
IPC主分类号
:
G01R2702
IPC分类号
:
G01R102
代理机构
:
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
:
俞光明
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-09-21
授权
授权
共 50 条
[1]
接触电阻测量装置
[P].
傅延安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
傅延安
;
阎启
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阎启
;
俞宁峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
俞宁峰
;
苏海波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏海波
.
中国专利
:CN201218825Y
,2009-04-08
[2]
一种正压式触头接触电阻测量装置
[P].
郑攀峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑攀峰
;
耿攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
耿攀
;
张国友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张国友
;
徐林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐林
;
左超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
左超
;
余定峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余定峰
;
张平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张平
;
孙瑜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙瑜
;
杨文铁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨文铁
;
杨帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨帅
;
肖涵琛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖涵琛
;
明海涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
明海涛
;
杜兆伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜兆伟
.
中国专利
:CN207502614U
,2018-06-15
[3]
继电器接触电阻测量装置
[P].
叶光华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶光华
;
蒲启成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒲启成
;
李明祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李明祥
;
司玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
司玮
;
李新红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李新红
;
倪庆雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
倪庆雷
.
中国专利
:CN204536497U
,2015-08-05
[4]
继电器接触电阻测量装置
[P].
李维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李维
;
于雪峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于雪峰
;
杨耀克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨耀克
;
蒲启成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒲启成
.
中国专利
:CN204789761U
,2015-11-18
[5]
一种焊丝动态接触电阻测量装置
[P].
王慧源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王慧源
;
陈波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈波
;
王健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王健
;
贾玉力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾玉力
;
周宝金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周宝金
;
王国佛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王国佛
;
金喜庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金喜庆
;
张胜鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张胜鹏
;
徐亦楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐亦楠
;
郝增龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郝增龙
;
王纯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王纯
;
李丹晖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李丹晖
;
宋昌洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋昌洪
.
中国专利
:CN213581146U
,2021-06-29
[6]
一种CTLM比接触电阻测量装置及比接触电阻测量设备
[P].
尹振
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
尹振
;
尚海平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
尚海平
;
王英辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
王英辉
.
中国专利
:CN113740608B
,2024-05-31
[7]
一种CTLM比接触电阻测量装置及比接触电阻测量设备
[P].
尹振
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尹振
;
尚海平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尚海平
;
王英辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王英辉
.
中国专利
:CN113740608A
,2021-12-03
[8]
接触电阻测量系统的加压装置
[P].
郁中太
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郁中太
;
包晔峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
包晔峰
;
蒋永锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋永锋
.
中国专利
:CN101833039B
,2010-09-15
[9]
接触电阻测试装置
[P].
阮献忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阮献忠
.
中国专利
:CN205749681U
,2016-11-30
[10]
一种高压开关动态接触电阻测量装置
[P].
孟泽文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟泽文
;
陈丽安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈丽安
;
游一民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
游一民
.
中国专利
:CN207396604U
,2018-05-22
←
1
2
3
4
5
→