电子元件压接装置及包含该电子元件压接装置的测试分类设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010037707.5

申请日：

2020-01-14

公开(公告)号：

CN113189372A

公开(公告)日：

2021-07-30

发明(设计)人：

蔡志欣巫吉生张铭德

申请人：

申请人地址：

中国台湾台中市

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139

代理人：

李林

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-30	公开	公开
2021-08-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20200114

共 50 条

[1]

电子元件压接装置 [P].

齐藤胜 ;

安西洋 ;

八幡直幸 .

中国专利 :CN100423220C ,2006-05-24

[2]

电子元件压接机构及其应用的压接装置、测试分类设备 [P].

蔡志欣 .

中国专利 :CN113138296A ,2021-07-20

[3]

一种电子元件压接装置 [P].

李磊 .

中国专利 :CN217493282U ,2022-09-27

[4]

电子元件测试分类设备 [P].

谢旼达 ;

张原龙 .

中国专利 :CN105983543A ,2016-10-05

[5]

一种电子元件压接设备 [P].

张俊荣 ;

柯世平 ;

张家腾 ;

谢宗伦 .

中国专利 :CN221631564U ,2024-08-30

[6]

电子元件及包含该电子元件的移动体通信装置 [P].

古川修 ;

千代间仁 ;

川和久 ;

土沼健一 .

中国专利 :CN1146029C ,1998-09-23

[7]

具有差异下压力的电子元件压接装置 [P].

吴基诚 ;

吕孟恭 ;

郑允睿 ;

陈建名 .

中国专利 :CN108732394B ,2018-11-02

[8]

电子元件、使用该电子元件的电子元件装置及其制造方法 [P].

舟木达弥 .

中国专利 :CN101479839A ,2009-07-08

[9]

电子元件测试装置及电子元件的测试方法 [P].

金子裕史 ;

山下和之 .

中国专利 :CN101563620A ,2009-10-21

[10]

电子元件测试设备 [P].

梁晋玮 .

中国专利 :CN111044839B ,2020-04-21

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