电芯性能的检测方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811258949.6

申请日：

2018-10-26

公开(公告)号：

CN109212363A

公开(公告)日：

2019-01-15

发明(设计)人：

王克坚高峰

申请人：

申请人地址：

101300 北京市顺义区仁和镇时骏北街1号院4栋(科技创新功能区)

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

张润

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-02-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20181026
2019-01-15	公开	公开
2021-06-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20190115

共 50 条

[1]

电芯检测装置、电芯检测方法及电芯检测系统 [P].

金炯骏 ;

申东焕 ;

李敏揆 .

韩国专利 :CN119422267A ,2025-02-11

[2]

电芯检测方法、电子设备及电芯检测设备 [P].

段存立 ;

何见 ;

禤伟杰 ;

祝启航 .

中国专利 :CN120070371A ,2025-05-30

[3]

电芯检测系统及电芯检测方法 [P].

李红圆 ;

毛宇阳 ;

姜平 ;

吴春旭 .

中国专利 :CN115808138B ,2025-08-01

[4]

电芯检测方法及装置 [P].

吴克成 ;

童衍辰 ;

李翔 .

中国专利 :CN113406515B ,2021-09-17

[5]

电芯检测方法及装置 [P].

石彪 ;

钱俊 ;

刘太刚 .

中国专利 :CN117723979A ,2024-03-19

[6]

电芯性能检测设备 [P].

王冕 ;

秦桐 ;

田双良 ;

王鹏 .

中国专利 :CN222579340U ,2025-03-07

[7]

检测装置及用于电芯检测的检测方法 [P].

洪明志 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 ;

李亮 ;

王子楠 ;

常铭 .

中国专利 :CN116773565B ,2024-09-24

[8]

电芯异常检测方法、装置、及电芯制造方法 [P].

张竹 .

中国专利 :CN119247163A ,2025-01-03

[9]

检测装置及用于电芯检测的检测方法 [P].

李亮 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 ;

洪明志 ;

常铭 ;

王子楠 .

中国专利 :CN116818812B ,2024-05-14

[10]

检测装置及用于电芯检测的检测方法 [P].

常铭 ;

陈志强 ;

李元景 ;

张丽 ;

李亮 ;

洪明志 ;

王子楠 .

中国专利 :CN116973388B ,2024-04-09

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