能使荧光显微成像和荧光光谱分析同步实现的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420042158.0

申请日：

2014-01-23

公开(公告)号：

CN203672787U

公开(公告)日：

2014-06-25

发明(设计)人：

杨亚军

申请人：

申请人地址：

650000 云南省昆明市北京路1088号领域时代大厦A幢14层4室

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

昆明科阳知识产权代理事务所 53111

代理人：

李行健

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101650485487 IPC(主分类):G01N 21/64 专利号:ZL2014200421580 申请日:20140123 授权公告日:20140625 终止日期:20150123
2014-06-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种面成像荧光光谱分析系统 [P].

章一新 ;

禹正杨 ;

郭昌盛 ;

杨聪 ;

周鹏 ;

贺青卿 ;

谢磊 ;

李科 .

中国专利 :CN210221821U ,2020-03-31

[2]

荧光显微镜及荧光相关光谱分析装置 [P].

长谷川宽 ;

伊崎泰则 .

中国专利 :CN101019018A ,2007-08-15

[3]

溶液原位原子荧光光谱分析装置 [P].

王秋泉 ;

闫丽珍 ;

杨利民 .

中国专利 :CN118294426A ,2024-07-05

[4]

用于X射线荧光光谱分析的熔剂 [P].

袁家义 ;

白雪冰 ;

吕振生 .

中国专利 :CN1800811B ,2006-07-12

[5]

用于通过红外光谱和荧光光谱分析谷物的装置 [P].

克莱门特·沃辛 ;

奥利维尔·查尔斯-弗朗索瓦 ;

帕布斯·布塔瓦口 ;

蒙吉·梅萨奥迪 ;

斯蒂芬·奥多斯 .

中国专利 :CN112400105A ,2021-02-23

[6]

用X射线荧光光谱分析生铁成分的方法 [P].

杜登福 .

中国专利 :CN105241907B ,2016-01-13

[7]

一种X射线荧光光谱分析装置 [P].

梁志宏 .

中国专利 :CN201773074U ,2011-03-23

[8]

X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置 [P].

张蕾 ;

许超 ;

魏春阳 ;

陈宁娜 ;

吴龙水 .

中国专利 :CN221563932U ,2024-08-20

[9]

用于X射线荧光光谱分析的织物样片 [P].

窦怀智 ;

申晓萍 ;

侯晋 .

中国专利 :CN203191238U ,2013-09-11

[10]

连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法 [P].

边立槐 ;

殷宏 ;

杨觎 ;

孙颖 .

中国专利 :CN101498675A ,2009-08-05

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