一种有源光模块的老化测试装置及系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201820913977.6
申请日
2018-06-13
公开(公告)号
CN208239583U
公开(公告)日
2018-12-14
发明(设计)人
查毅 匡伟
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道深南大道9680号大冲商务中心1号楼9层901
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3101 G01R104
代理机构
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248
代理人
温玉珍
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
一种有源光模块的老化测试装置 [P]. 
温首新 .
中国专利 :CN213423427U ,2021-06-11
[2]
一种光模块的老化测试装置 [P]. 
郑波 ;
熊志刚 ;
王硕琦 ;
黄伟毅 .
中国专利 :CN206193213U ,2017-05-24
[3]
一种光模块的老化测试装置 [P]. 
马学友 ;
杨勰娟 .
中国专利 :CN210572541U ,2020-05-19
[4]
一种光模块老化测试装置 [P]. 
兰政 ;
张重酉 ;
梅岚钦 .
中国专利 :CN217007508U ,2022-07-19
[5]
光模块老化测试装置 [P]. 
秦强 ;
汪红军 ;
陈晨 ;
吉昌 ;
刘红卫 ;
成锐 ;
黄睿 .
中国专利 :CN113055086A ,2021-06-29
[6]
一种光模块的老化测试装置 [P]. 
郑波 ;
熊志刚 ;
王硕琦 ;
黄伟毅 .
中国专利 :CN106405441A ,2017-02-15
[7]
一种有源光模块的老化装置 [P]. 
曾征辉 .
中国专利 :CN208505575U ,2019-02-15
[8]
一种光模块老化测试装置及方法 [P]. 
商俊强 ;
宋柳佳 ;
苏方圆 ;
马建旭 ;
陆明 ;
李岩 ;
杨帆 .
中国专利 :CN108646121A ,2018-10-12
[9]
用于光模块的高精度老化测试装置 [P]. 
刘伟 ;
胡海洋 ;
纪铭 ;
黄建军 .
中国专利 :CN213843416U ,2021-07-30
[10]
老化测试装置及系统 [P]. 
林石裕 ;
王立新 ;
吴俊杰 .
中国专利 :CN216748005U ,2022-06-14