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膜缺陷检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201620059806.2
申请日：
2016-01-21
公开(公告)号：
CN205374324U
公开(公告)日：
2016-07-06
发明(设计)人：
王政强
孙雪峰
李正林
潘彪
申请人：
申请人地址：
201508 上海市金山区山阳镇板桥东路428号13幢1层
IPC主分类号：
G01N2188
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-07-06 | 授权 | 授权 |