测试治具检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320026745.6

申请日：

2013-01-18

公开(公告)号：

CN203025340U

公开(公告)日：

2013-06-26

发明(设计)人：

罗力

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市山区深南大道10128号南山软件园东塔1306室

IPC主分类号：

G01R3500

IPC分类号：

G01R3102 G01R2702

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-06-26	授权	授权
2015-03-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101601504857 IPC(主分类):G01R 35/00 专利号:ZL2013200267456 申请日:20130118 授权公告日:20130626 终止日期:20140118

共 50 条

[1]

测试治具和测试系统 [P].

李炳虎 ;

黄小勇 ;

唐群辉 ;

刘国强 ;

梅兵 ;

张洋 .

中国专利 :CN212180964U ,2020-12-18

[2]

测试治具 [P].

易小博 ;

杨慧萍 ;

张柳咏 ;

陈新福 ;

董文利 ;

杨福斌 ;

刘思伟 ;

刘帅 ;

高云峰 .

中国专利 :CN210090614U ,2020-02-18

[3]

测试治具及测试系统 [P].

何孔龙 ;

王朋 ;

周正友 ;

胡国平 ;

吴江照 .

中国专利 :CN222939215U ,2025-06-03

[4]

测试治具及测试系统 [P].

李秋梅 ;

孙财 ;

陶淳 ;

陈建群 .

中国专利 :CN211627667U ,2020-10-02

[5]

测试治具及测试系统 [P].

李想 ;

罗本昌 ;

黄伟铧 .

中国专利 :CN215005520U ,2021-12-03

[6]

测试治具及测试系统 [P].

高德康 ;

李冬晗 ;

杨威 .

中国专利 :CN207965406U ,2018-10-12

[7]

定子测试治具及定子检测系统 [P].

萧家祥 ;

李国荣 .

中国专利 :CN117741272A ,2024-03-22

[8]

手动测试治具 [P].

嵇杰 .

中国专利 :CN204346479U ,2015-05-20

[9]

耐压测试治具 [P].

张升华 .

中国专利 :CN201016993Y ,2008-02-06

[10]

芯片测试治具 [P].

刘凯 ;

郭靖 ;

施元军 ;

高凯 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN204303758U ,2015-04-29

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