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一种电子设备外壳完整性检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201720148087.6
申请日：
2017-02-20
公开(公告)号：
CN206593819U
公开(公告)日：
2017-10-27
发明(设计)人：
侯良
曹霈雯
田磊
孙静波
申请人：
申请人地址：
300000 天津市津南区天津双港高科技产业园联东优谷37-2
IPC主分类号：
G01M332
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-10-27 | 授权 | 授权 |