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检查方法和检查系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680028966.3
申请日
:
2016-05-13
公开(公告)号
:
CN107635677A
公开(公告)日
:
2018-01-26
发明(设计)人
:
弗雷德琳·迈巴赫
马蒂亚斯·赫尔姆勒
申请人
:
申请人地址
:
瑞士比尔
IPC主分类号
:
B07C512
IPC分类号
:
G01N2190
G06T700
代理机构
:
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
:
黄艳;谢强
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-02-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/12 申请日:20160513
2022-06-24
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B07C 5/12 申请公布日:20180126
2018-01-26
公开
公开
共 50 条
[1]
检查系统和检查方法
[P].
张丽
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张丽
;
陈志强
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陈志强
;
胡海峰
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胡海峰
;
李元景
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李元景
;
刘以农
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刘以农
;
孙尚民
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孙尚民
;
张文宇
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张文宇
;
邢宇翔
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邢宇翔
.
中国专利
:CN101424648B
,2009-05-06
[2]
检查设备、检查方法和检查系统
[P].
张丽
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
张丽
;
陈志强
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
陈志强
;
李元景
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李元景
;
黄清萍
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
黄清萍
;
冯博
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
冯博
;
张立国
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
张立国
;
李桂培
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
李桂培
;
何志锋
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
何志锋
;
常铭
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
常铭
.
中国专利
:CN118707613A
,2024-09-27
[3]
产品视觉检查系统和产品视觉检查方法
[P].
周磊
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
周磊
;
张丹丹
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
张丹丹
;
鲁异
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
鲁异
;
王勇
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
王勇
;
关小虎
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
关小虎
;
董延璐
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
董延璐
;
潘祝磊
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泰科电子(上海)有限公司
泰科电子(上海)有限公司
潘祝磊
.
中国专利
:CN120558840A
,2025-08-29
[4]
辐射检查系统和辐射检查方法
[P].
冯志涛
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冯志涛
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曹艳锋
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曹艳锋
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王少锋
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王少锋
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胡晓伟
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胡晓伟
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王彦华
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王彦华
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闫雄
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闫雄
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王春雷
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王春雷
.
中国专利
:CN107228869A
,2017-10-03
[5]
辐射检查系统和辐射检查方法
[P].
芮晓亮
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芮晓亮
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王永明
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王永明
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许艳伟
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许艳伟
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中国专利
:CN114764074A
,2022-07-19
[6]
检查装置和检查系统
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木村匠
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佳能株式会社
佳能株式会社
木村匠
.
日本专利
:CN119473176A
,2025-02-18
[7]
检查方法和检查系统
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切明健志
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切明健志
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吉田清
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吉田清
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三浦聪纪
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三浦聪纪
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木村爱佳
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木村爱佳
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水田政智
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水田政智
.
中国专利
:CN103175867A
,2013-06-26
[8]
检查方法和检查系统
[P].
秋元健司
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秋元健司
.
中国专利
:CN115508384A
,2022-12-23
[9]
检查方法和检查系统
[P].
松田文彦
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松田文彦
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木村安雄
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木村安雄
.
中国专利
:CN114545193A
,2022-05-27
[10]
检查系统和检查方法
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陈志强
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陈志强
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李元景
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李元景
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赵自然
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赵自然
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吴万龙
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吴万龙
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唐乐
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唐乐
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刘以农
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刘以农
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金颖康
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金颖康
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丁光伟
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丁光伟
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曹硕
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曹硕
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郑志敏
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郑志敏
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刘文国
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刘文国
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俞文涛
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俞文涛
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周奕
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周奕
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中国专利
:CN103892853A
,2014-07-02
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