程序测试方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910931438.4
申请日
2019-09-27
公开(公告)号
CN110688318A
公开(公告)日
2020-01-14
发明(设计)人
李秋林 金伟光
申请人
申请人地址
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
刘丽丽
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
程序测试方法和装置 [P]. 
张强 ;
马超 ;
李敏 ;
朱文洁 .
中国专利 :CN113535590A ,2021-10-22
[2]
程序测试方法和装置 [P]. 
张强 ;
马超 ;
李敏 ;
朱文洁 .
中国专利 :CN113535590B ,2025-04-18
[3]
程序测试方法、程序测试装置、存储介质和电子设备 [P]. 
谢林 ;
朱兴军 ;
刘通 ;
惠超 .
中国专利 :CN111522752A ,2020-08-11
[4]
程序调试方法和装置 [P]. 
金伟光 .
中国专利 :CN110704321A ,2020-01-17
[5]
针对财务程序的测试方法和装置 [P]. 
徐蕾 .
中国专利 :CN110928786B ,2024-04-02
[6]
针对财务程序的测试方法和装置 [P]. 
徐蕾 .
中国专利 :CN110928786A ,2020-03-27
[7]
程序测试方法、程序测试装置及存储介质 [P]. 
雷达伟 .
中国专利 :CN110888816A ,2020-03-17
[8]
应用程序测试方法及装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
陈壮壮 ;
苏日娜 ;
苗森 ;
杨旭光 .
中国专利 :CN110377517A ,2019-10-25
[9]
程序测试方法和程序测试装置 [P]. 
胡小龙 ;
劳树坤 ;
朱加伟 .
中国专利 :CN115373969A ,2022-11-22
[10]
小程序测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
张萍 ;
李积宏 ;
陈惠梅 ;
刘璇 .
中国专利 :CN113392008B ,2024-08-06