一种存储设备电源芯片稳定性的测试方法、装置及设备

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专利类型
发明
申请号
CN202011600941.0
申请日
2020-12-29
公开(公告)号
CN112834898A
公开(公告)日
2021-05-25
发明(设计)人
靳嘉晖
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地信息路2号C栋5层
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3140
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
史翠
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
胡嘉椿 .
中国专利 :CN118503137A ,2024-08-16
[2]
区块链系统稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王暄 ;
张一锋 ;
范贵甫 .
中国专利 :CN109617759A ,2019-04-12
[3]
一种电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
周立功 ;
谢毓 ;
杜少平 .
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[4]
稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
马腾飞 ;
袁杰 .
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[5]
设备扩容稳定性测试方法 [P]. 
张志 .
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[6]
存储稳定性的测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
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徐晓阳 .
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[7]
网卡稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
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中国专利 :CN115580550A ,2023-01-06
[8]
网卡稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
窦伟 .
中国专利 :CN115580550B ,2025-02-07
[9]
流量稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
冯伟 ;
刘志龙 .
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[10]
设备网管稳定性测试方法及装置 [P]. 
宋晓炜 .
中国专利 :CN101945016A ,2011-01-12