瓷套形位公差检验装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120214738.X

申请日：

2011-06-23

公开(公告)号：

CN202126227U

公开(公告)日：

2012-01-25

发明(设计)人：

张松岭盛根岭闫清现

申请人：

申请人地址：

461500 河南省许昌市长葛市南环路西段河南德信电瓷有限公司

IPC主分类号：

G01B500

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-08-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101584401665 IPC(主分类):G01B 5/00 专利号:ZL201120214738X 申请日:20110623 授权公告日:20120125 终止日期:20130623
2012-01-25	授权	授权

共 50 条

[1]

电站电瓷形位公差检测专用装置 [P].

周兆雄 .

中国专利 :CN212340114U ,2021-01-12

[2]

瓷套法兰检验装置 [P].

赵福涛 .

中国专利 :CN204788297U ,2015-11-18

[3]

检验导叶形位公差的工装 [P].

肖滨 ;

胡洋广 .

中国专利 :CN202614169U ,2012-12-19

[4]

用于钛电极板形位公差的检验工装 [P].

李新中 ;

刘钢 .

中国专利 :CN212458176U ,2021-02-02

[5]

瓷套检验台 [P].

盛根岭 ;

张松岭 ;

丁拾金 ;

盛亮 ;

牛秋月 ;

宋霄鹏 .

中国专利 :CN202305313U ,2012-07-04

[6]

形位公差演示装置 [P].

张良利 ;

马琦 ;

黄梦蝶 ;

胡越 ;

张有 ;

楼陈勇 ;

张子园 ;

朱流 ;

涂志标 .

中国专利 :CN209216421U ,2019-08-06

[7]

形位公差检测装置 [P].

杨刚 ;

范真 ;

徐旭松 ;

魏建军 ;

吉庭婷 ;

李京 .

中国专利 :CN206369506U ,2017-08-01

[8]

一种直接检验形位公差的装置 [P].

蔡宝军 .

中国专利 :CN208269811U ,2018-12-21

[9]

瓷套同轴度检验装置 [P].

张松岭 ;

盛根岭 ;

闫清现 .

中国专利 :CN202109872U ,2012-01-11

[10]

—种检验多尺寸和形位公差工装 [P].

李海龙 ;

钱江 .

中国专利 :CN213147624U ,2021-05-07

← 1 2 3 4 5 →