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一种用于电介质微弱发光测量的单光子计数系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201110027211.0
申请日
:
2011-01-25
公开(公告)号
:
CN102072774A
公开(公告)日
:
2011-05-25
发明(设计)人
:
张冠军
穆海宝
郭一欣
申请人
:
申请人地址
:
710049 陕西省西安市咸宁西路28号
IPC主分类号
:
G01J1100
IPC分类号
:
G01R3114
代理机构
:
西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人
:
汪人和
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-07-04
授权
授权
2011-05-25
公开
公开
2011-07-06
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101086501274 IPC(主分类):G01J 11/00 专利申请号:2011100272110 申请日:20110125
共 50 条
[1]
一种单光子计数系统及计数方法
[P].
文斐
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文斐
;
高昕
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高昕
;
李锋
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李锋
;
金革
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金革
.
中国专利
:CN101860358A
,2010-10-13
[2]
一种多参数配置的单光子计数系统
[P].
邓仕杰
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邓仕杰
;
刘厚权
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刘厚权
;
滕传新
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滕传新
;
邓洪昌
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邓洪昌
;
陈明
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陈明
;
杨宏艳
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杨宏艳
;
徐荣辉
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徐荣辉
;
苑立波
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苑立波
.
中国专利
:CN110887574B
,2020-03-17
[3]
一种用于化学发光的单光子计数装置
[P].
张会生
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张会生
.
中国专利
:CN112834489B
,2021-05-25
[4]
一种基于时分复用的零死时间单光子计数系统
[P].
丰镜苔
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电子科技大学
电子科技大学
丰镜苔
;
曾小华
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
曾小华
;
黄炎铭
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
黄炎铭
;
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机构:
张洪铭
;
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机构:
付永启
;
廖小军
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
廖小军
.
中国专利
:CN120651367A
,2025-09-16
[5]
一种互补测量的单光子计数成像系统及方法
[P].
翟光杰
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翟光杰
;
王超
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王超
;
赵清
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赵清
;
俞文凯
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俞文凯
;
刘雪峰
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刘雪峰
.
中国专利
:CN102768070B
,2012-11-07
[6]
一种单光子计数装置
[P].
张国青
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张国青
;
刘丽娜
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刘丽娜
;
宋立勋
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宋立勋
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朱长军
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朱长军
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刘汉臣
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刘汉臣
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张英堂
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张英堂
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翟学军
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翟学军
.
中国专利
:CN203385484U
,2014-01-08
[7]
用于单光子计数仪的标准光源
[P].
于晋生
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于晋生
;
兰江
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兰江
;
杨晓林
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杨晓林
;
吴晓东
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吴晓东
.
中国专利
:CN2793524Y
,2006-07-05
[8]
用于单光子计数仪的标准光源
[P].
于晋生
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于晋生
;
兰江
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兰江
;
杨晓林
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杨晓林
;
吴晓东
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吴晓东
.
中国专利
:CN100494991C
,2005-06-01
[9]
一种单光子计数处理方法、系统、设备及存储介质
[P].
郭强
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郭强
;
张帅
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张帅
;
陈杰
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陈杰
.
中国专利
:CN114923591A
,2022-08-19
[10]
基于单光子计数的瞬态荧光寿命测量方法及测量系统
[P].
黄晓淳
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黄晓淳
;
李得勇
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李得勇
;
翁羽翔
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翁羽翔
.
中国专利
:CN102590159B
,2012-07-18
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