估值装置、测量设备以及路径长度测量方法和测量系统以及用于坐标测量装置的方法和坐标测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080035504.7

申请日：

2010-06-10

公开(公告)号：

CN102803989A

公开(公告)日：

2012-11-28

发明(设计)人：

B.斯普拉克 F.霍勒 C.阿尔瓦雷兹迪兹

申请人：

申请人地址：

德国上科亨

IPC主分类号：

G01S1736

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

邱军

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-10	授权	授权
2022-05-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/04 申请日:20100610 授权公告日:20150610 终止日期:20210610
2012-11-28	公开	公开
2013-01-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101383317548 IPC(主分类):G01S 17/36 专利申请号:2010800355047 申请日:20100610

共 50 条

[1]

估值装置、测量设备和测量路径长度的方法 [P].

B.斯普鲁克 ;

F.霍勒 ;

C.阿尔瓦雷兹迪兹 .

中国专利 :CN102803988A ,2012-11-28

[2]

坐标测量方法和坐标测量系统 [P].

罗伯特·E·布里奇斯 .

中国专利 :CN101427153B ,2009-05-06

[3]

测量装置、测量系统以及测量方法 [P].

渡边义浩 ;

石川正俊 ;

加地宏乃介 .

日本专利 :CN112771367B ,2025-02-11

[4]

用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置 [P].

T·赫尔德 .

中国专利 :CN101868691B ,2010-10-20

[5]

测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法 [P].

壶井修 ;

丑込道雄 ;

百濑悟 .

中国专利 :CN106574888B ,2017-04-19

[6]

测量系统、测量装置、以及脚型测量方法、和系统 [P].

丁晓华 ;

李哲民 .

中国专利 :CN105976406A ,2016-09-28

[7]

测量装置、测量系统、测量方法以及程序 [P].

水野诚一 .

中国专利 :CN110192229A ,2019-08-30

[8]

测量装置、测量系统和测量方法 [P].

李安宁 ;

唐辉强 ;

贾佳 .

中国专利 :CN114145765A ,2022-03-08

[9]

测量装置、测量系统和测量方法 [P].

李安宁 ;

李岳春 ;

唐辉强 .

中国专利 :CN114145733A ,2022-03-08

[10]

测量装置、测量系统和测量方法 [P].

王浩 .

中国专利 :CN113465744A ,2021-10-01

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