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一种用于手机玻璃基板的内缺陷检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721795084.8
申请日
:
2017-12-20
公开(公告)号
:
CN207662823U
公开(公告)日
:
2018-07-27
发明(设计)人
:
周金春
薛宇
李同玉
申请人
:
申请人地址
:
241000 安徽省芜湖市芜湖经济技术开发区桥北工业园红光路1#厂房(中利机械科技有限公司内)
IPC主分类号
:
G01N21958
IPC分类号
:
G01N2101
代理机构
:
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人
:
杨红梅
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-11-27
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/958 申请日:20171220 授权公告日:20180727 终止日期:20191220
2018-07-27
授权
授权
共 50 条
[1]
玻璃基板的缺陷检测装置
[P].
毕相群
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毕相群
;
赵艳军
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赵艳军
;
张桂龙
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张桂龙
;
刘志彪
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刘志彪
;
郑连军
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郑连军
;
董庆敏
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董庆敏
.
中国专利
:CN218239878U
,2023-01-06
[2]
一种玻璃基板缺陷的检测装置
[P].
冼科
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冼科
;
仵小曦
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仵小曦
;
齐信涛
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齐信涛
.
中国专利
:CN206321584U
,2017-07-11
[3]
一种玻璃基板缺陷检测装置
[P].
范和峰
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范和峰
.
中国专利
:CN108426897A
,2018-08-21
[4]
一种用于手机玻璃基板的检测边缘缺损装置
[P].
周金春
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周金春
;
薛宇
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薛宇
;
李同玉
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李同玉
.
中国专利
:CN207662812U
,2018-07-27
[5]
一种用于检测玻璃基板中缺陷的装置
[P].
郭强
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郭强
;
成敢为
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成敢为
.
中国专利
:CN202794060U
,2013-03-13
[6]
一种玻璃基板缺陷检测装置及方法
[P].
王玉仁
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机构:
长沙湘计海盾科技有限公司
长沙湘计海盾科技有限公司
王玉仁
;
卢山
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机构:
长沙湘计海盾科技有限公司
长沙湘计海盾科技有限公司
卢山
.
中国专利
:CN118294526A
,2024-07-05
[7]
玻璃基板的缺陷检测装置及玻璃基板生产线
[P].
李青
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李青
;
李赫然
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李赫然
;
毕相群
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毕相群
;
刘国防
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刘国防
;
赵艳军
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赵艳军
;
张桂龙
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张桂龙
;
刘志彪
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刘志彪
;
郑连军
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郑连军
.
中国专利
:CN218239879U
,2023-01-06
[8]
玻璃基板运动状态缺陷检测设备
[P].
闫秀涛
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闫秀涛
;
李学锋
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李学锋
;
张占永
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张占永
;
胡鹏
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胡鹏
;
甄向伟
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甄向伟
;
刘鹏
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刘鹏
.
中国专利
:CN210982251U
,2020-07-10
[9]
玻璃基板缺陷检测装置及其检测方法
[P].
刘正爱
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
刘正爱
;
陶子鹏
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奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
陶子鹏
;
洪志王
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奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
洪志王
;
华德政
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
华德政
.
中国专利
:CN120064310A
,2025-05-30
[10]
玻璃基板缺陷检测装置及其检测方法
[P].
刘正爱
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
刘正爱
;
陶子鹏
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奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
陶子鹏
;
洪志王
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奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
洪志王
;
华德政
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
华德政
.
中国专利
:CN120064310B
,2025-07-18
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