辐射检测系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980043247.2

申请日：

2019-06-25

公开(公告)号：

CN112997102A

公开(公告)日：

2021-06-18

发明(设计)人：

B·塞德沃尔

申请人：

申请人地址：

瑞典斯德哥尔摩

IPC主分类号：

G01V500

IPC分类号：

G01T120 G01T306

代理机构：

北京市中伦律师事务所 11410

代理人：

钟锦舜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 5/00 申请日:20190625
2021-06-18	公开	公开

共 50 条

[1]

辐射检测系统和方法 [P].

B·塞德沃尔 .

:CN112997102B ,2024-09-10

[2]

中子辐射检测系统和方法 [P].

M·埃瓦特塞恩科-博霍 ;

E·莱德 ;

R·皮耶恩 ;

N·特罗斯特 ;

R·布霍尔特 .

中国专利 :CN109983364A ,2019-07-05

[3]

辐射检测系统和辐射检测装置 [P].

张利 ;

孟辉 ;

宋全伟 ;

樊旭平 ;

史俊平 ;

宗春光 ;

许艳伟 ;

刘必成 ;

喻卫丰 ;

刘磊 .

中国专利 :CN117784266A ,2024-03-29

[4]

辐射检测装置和辐射检测系统 [P].

大藤将人 ;

渡边实 ;

横山启吾 ;

川锅润 ;

藤吉健太郎 ;

和山弘 .

中国专利 :CN104851897A ,2015-08-19

[5]

辐射检测设备和辐射检测系统 [P].

石田阳平 ;

冈田聪 ;

长野和美 ;

野村庆一 ;

市村知昭 ;

佐佐木庆人 .

中国专利 :CN103370637A ,2013-10-23

[6]

基于SiPM的辐射检测系统和方法 [P].

J·R·普勒斯顿 .

中国专利 :CN105980885A ,2016-09-28

[7]

辐射检测系统 [P].

A.切尔林 ;

I.拉德利 .

中国专利 :CN115516339A ,2022-12-23

[8]

检测装置和辐射检测系统 [P].

藤吉健太郎 ;

望月千织 ;

渡边实 ;

石井孝昌 ;

川锅润 ;

和山弘 .

中国专利 :CN102446931A ,2012-05-09

[9]

检测目标辐射的系统和方法 [P].

M·R·库斯尼 ;

M·R·梅休 .

中国专利 :CN102576085A ,2012-07-11

[10]

检测目标辐射的系统和方法 [P].

M·R·库斯尼 ;

M·R·梅休 .

中国专利 :CN105676258A ,2016-06-15

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