光学相位测量方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580030113.9

申请日：

2015-04-12

公开(公告)号：

CN106461377A

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

吉拉德·巴拉克德罗尔·沙菲尔丹尼·格罗斯曼约阿夫·贝拉茨基亚尼尔·海尼克

申请人：

申请人地址：

以色列雷霍沃特

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B902 G01N2195

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

梁丽超;陈鹏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-22	公开	公开
2017-05-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101717200520 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2015800301139 申请日:20150412
2021-12-17	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01B 11/24 变更事项:专利权人变更前:诺威量测设备股份有限公司变更后:诺威有限公司变更事项:地址变更前:以色列雷霍沃特变更后:以色列雷霍沃特
2019-12-13	授权	授权

共 50 条

[1]

光学相位测量方法和系统 [P].

吉拉德·巴拉克 ;

德罗尔·沙菲尔 ;

亚尼尔·海尼克 ;

沙哈尔·戈夫 .

中国专利 :CN105143814B ,2015-12-09

[2]

一种高速光学相位测量系统、测量方法及其应用 [P].

朱金龙 ;

李泽迪 .

中国专利 :CN117450917A ,2024-01-26

[3]

光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[4]

动量空间光学相位测量系统 [P].

张译文 ;

石磊 ;

资剑 ;

殷海玮 ;

胡松婷 .

中国专利 :CN110631994A ,2019-12-31

[5]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[6]

光学视角测量系统及其测量方法 [P].

饶景隆 ;

戴国良 .

中国专利 :CN101191994A ,2008-06-04

[7]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

濱田基明 .

中国专利 :CN102565005A ,2012-07-11

[8]

光学测量系统及光学测量方法 [P].

蔡泰成 ;

吴岱纬 ;

廖冠咏 ;

许国君 ;

许寿文 ;

李允立 .

中国专利 :CN103364078A ,2013-10-23

[9]

光学探头和光学测量方法 [P].

长谷川健美 ;

平野充遥 .

中国专利 :CN103703355A ,2014-04-02

[10]

光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

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