自动化测试方法、装置、设备及介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010867611.1
申请日
2020-08-26
公开(公告)号
CN111737073B
公开(公告)日
2020-10-02
发明(设计)人
丁振兰 王明昳 彭艳华 周阅 欧阳亚
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道留仙洞万科云城一期8栋
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
晏波
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、介质及设备 [P]. 
许晨光 ;
浦晓明 .
中国专利 :CN112463618A ,2021-03-09
[2]
自动化测试方法、装置、介质及设备 [P]. 
许晨光 ;
浦晓明 .
中国专利 :CN112463618B ,2024-06-25
[3]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
吴迪 ;
申世哲 ;
朱颖旻 ;
宋洁 ;
裘丰 .
中国专利 :CN119441053A ,2025-02-14
[4]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
喻春萍 ;
汪杰 ;
黄威 ;
郑盼 .
中国专利 :CN118519920A ,2024-08-20
[5]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈庚申 .
中国专利 :CN111475417A ,2020-07-31
[6]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张鹏 ;
谢鹏 .
中国专利 :CN109634837A ,2019-04-16
[7]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张鹏 ;
谢鹏 .
中国专利 :CN109634837B ,2024-05-28
[8]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
蔡欢媛 ;
江佳谊 ;
马保军 .
中国专利 :CN117857412A ,2024-04-09
[9]
自动化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
喻春萍 ;
汪杰 ;
黄威 ;
郑盼 .
中国专利 :CN118519920B ,2024-11-19
[10]
自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
楚琳琳 .
中国专利 :CN117493170A ,2024-02-02