光学量测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621446569.1

申请日：

2016-12-27

公开(公告)号：

CN209433410U

公开(公告)日：

2019-09-24

发明(设计)人：

方晓花谢强杜荣钦罗锐高云峰

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区深南大道9988号

IPC主分类号：

G06K710

IPC分类号：

代理机构：

深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360

代理人：

陈琳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-24	授权	授权
2022-08-02	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G06K 7/10 登记生效日:20220721 变更事项:专利权人变更前权利人:大族激光科技产业集团股份有限公司变更后权利人:深圳市大族半导体装备科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市南山区深南大道9988号变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区万延工业区第六栋101

共 50 条

[1]

光学量测装置 [P].

方晓花 ;

高泂 ;

谢强 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430753U ,2017-08-22

[2]

缝隙的光学量测装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

罗锐 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430702U ,2017-08-22

[3]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[4]

光学量测装置 [P].

张巍耀 .

中国专利 :CN109655232A ,2019-04-19

[5]

光学量测装置 [P].

谢锦坤 ;

简俊杰 .

中国专利 :CN106323352A ,2017-01-11

[6]

光学量测装置 [P].

欧聪宪 ;

宋新岳 ;

许时旻 ;

林裕轩 .

中国专利 :CN115406527A ,2022-11-29

[7]

光学量测设备 [P].

王家威 .

中国专利 :CN201852559U ,2011-06-01

[8]

光学量测装置以及间隙量测方法 [P].

刘冠贤 ;

高定甲 ;

洪颢庭 ;

王一鸥 ;

蔡侑宏 ;

黄渤弘 .

中国专利 :CN106482653A ,2017-03-08

[9]

光学镜头量测装置 [P].

李嘉樟 .

中国专利 :CN118243351A ,2024-06-25

[10]

光学元件量测装置 [P].

徐振源 ;

黄景宏 ;

陈锡坤 ;

方裕贤 .

中国专利 :CN1752742A ,2006-03-29

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