线损原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211058158.5

申请日：

2022-08-30

公开(公告)号：

CN115409381A

公开(公告)日：

2022-11-29

发明(设计)人：

蔡科明韩权芳梁敬炜黄文亮王峰麟

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市越秀区东风东路757号

IPC主分类号：

G06Q1006

IPC分类号：

G06F16242 G06F162458 G06K962 G06Q5006

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

苏舒音

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	公开	公开
2022-12-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q 10/06 申请日:20220830

共 50 条

[1]

事故原因的确定方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹传钊 ;

段召容 ;

唐杰 ;

张炜 ;

金天寅 ;

吴建华 ;

张敬坤 ;

刘明义 ;

韦宇 ;

宋吉硕 .

中国专利 :CN119883697A ,2025-04-25

[2]

设备离线原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林鸿非 ;

李谦 .

中国专利 :CN117714334A ,2024-03-15

[3]

ODN故障原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘德成 ;

王政 ;

饶华阳 ;

蒋伟 ;

左学 .

中国专利 :CN118199720A ,2024-06-14

[4]

参数异常原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李丹丹 ;

慕学玲 ;

杜新凯 .

中国专利 :CN113516518A ,2021-10-19

[5]

参数异常原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李丹丹 ;

慕学玲 ;

杜新凯 .

中国专利 :CN113516518B ,2024-04-05

[6]

缺陷原因的确定方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

聂砂 ;

罗奕康 ;

戴菀庭 ;

郑江 .

中国专利 :CN119396676A ,2025-02-07

[7]

线损异常确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张世东 .

中国专利 :CN120150754A ,2025-06-13

[8]

松林变黄原因的确定方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张丁然 ;

乔童 ;

苗议丹 ;

闫志崟 ;

何杰 ;

张新 ;

蒋琦 ;

岳学斌 ;

剧梦婕 ;

刘长城 ;

徐常智 ;

王堃 .

中国专利 :CN120806107A ,2025-10-17

[9]

故障原因确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邵茂林 ;

韩钊明 ;

高鑫宇 .

中国专利 :CN117348585A ,2024-01-05

[10]

故障原因确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张能维 ;

廖钱深 ;

黄荣舜 ;

曾涛 ;

周兵 ;

周静 .

中国专利 :CN120255429A ,2025-07-04

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