光学跟踪系统及光学跟踪系统的坐标系整合方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580050352.0

申请日：

2015-09-18

公开(公告)号：

CN107072720B

公开(公告)日：

2017-08-18

发明(设计)人：

李贤箕

申请人：

申请人地址：

韩国首尔市

IPC主分类号：

G06F1716

IPC分类号：

A61B3420

代理机构：

北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384

代理人：

郑青松

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-23	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):A61B 34/20 变更事项:申请人变更前:株式会社高永科技变更后:株式会社高迎科技变更事项:地址变更前:韩国首尔市衿川区加山数码2路53号14楼,15楼变更后:韩国首尔市衿川区加山数码2路53号14楼,15楼
2017-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101747172765 IPC(主分类):A61B 34/20 专利申请号:2015800503520 申请日:20150918
2017-08-18	公开	公开
2020-11-20	授权	授权
2020-07-17	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):A61B 34/20 变更事项:申请人变更前:株式会社高迎科技变更后:株式会社高迎科技变更事项:地址变更前:韩国首尔市衿川区加山数码2路53号14楼,15楼变更后:韩国首尔市

共 50 条

[1]

光学跟踪系统及光学跟踪系统的坐标系整合方法 [P].

李贤箕 .

中国专利 :CN112562094A ,2021-03-26

[2]

光学跟踪系统及光学跟踪系统的跟踪方法 [P].

金尚勇 .

中国专利 :CN107106243A ,2017-08-29

[3]

光学跟踪系统及光学跟踪方法 [P].

洪德和 ;

李仁元 .

中国专利 :CN109938837A ,2019-06-28

[4]

光学跟踪系统及光学跟踪方法 [P].

洪德和 .

中国专利 :CN109938843B ,2019-06-28

[5]

光学跟踪系统及光学跟踪方法 [P].

洪德和 ;

李仁元 .

中国专利 :CN113813046A ,2021-12-21

[6]

光学跟踪系统及光学跟踪方法 [P].

洪德和 ;

李仁元 .

韩国专利 :CN113813046B ,2024-07-26

[7]

光学跟踪用标记、光学跟踪系统及光学跟踪方法 [P].

洪钟圭 ;

李贤箕 .

中国专利 :CN107693131B ,2018-02-16

[8]

一种跟踪系统坐标系校准装置 [P].

叶慧 .

中国专利 :CN207855724U ,2018-09-14

[9]

光学跟踪系统 [P].

R·本-伊莎 ;

A·查尼 ;

D·雅哈夫 ;

S·左莫 ;

I·艾弗拉特 .

中国专利 :CN105916462B ,2016-08-31

[10]

光学跟踪方法、装置及系统 [P].

李冬 .

中国专利 :CN107817471A ,2018-03-20

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