一种铁磁平面构件浅层损伤磁发射检测方法及磁发射检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611259207.6

申请日：

2016-12-30

公开(公告)号：

CN106814131B

公开(公告)日：

2017-06-09

发明(设计)人：

张东来潘世旻张恩超

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽镇深圳大学城哈工大校区

IPC主分类号：

G01N2782

IPC分类号：

代理机构：

深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248

代理人：

黎健任

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-29	授权	授权
2017-06-09	公开	公开

共 50 条

[1]

铁磁细长构件浅层损伤磁发射检测方法及磁发射检测系统 [P].

张东来 ;

潘世旻 ;

张恩超 .

中国专利 :CN107576720B ,2018-01-12

[2]

一种磁发射检测系统的构建方法 [P].

张东来 ;

张恩超 ;

高伟 ;

晏小兰 .

中国专利 :CN115078522A ,2022-09-20

[3]

一种磁发射检测系统的构建方法 [P].

张东来 ;

张恩超 ;

高伟 ;

晏小兰 .

中国专利 :CN115078522B ,2024-10-22

[4]

一种铁磁材料早期损伤的磁无损检测方法 [P].

王正道 ;

毛军 ;

姚凯 ;

税国双 ;

谷宇 ;

丁克勤 .

中国专利 :CN102393419A ,2012-03-28

[5]

一种铁磁材料接触损伤评价的磁无损检测方法 [P].

汪越胜 ;

姚凯 ;

黄亭 ;

鲁晓鹏 ;

王婷婷 ;

杨双景 .

中国专利 :CN103776895B ,2014-05-07

[6]

一种铁磁材料接触损伤反演的磁无损检测方法 [P].

汪越胜 ;

姚凯 ;

黄亭 ;

鲁晓鹏 ;

王婷婷 .

中国专利 :CN103792280B ,2014-05-14

[7]

用于铁磁金属器件的缺陷检测系统 [P].

魏雨童 ;

李苏杭 ;

姚润润 ;

胡宇晴 ;

唐正 ;

郑世强 .

中国专利 :CN119901805A ,2025-04-29

[8]

磁检测装置、磁检测单元及其制造方法、磁检测系统 [P].

牛田彩希 .

日本专利 :CN117590298A ,2024-02-23

[9]

磁传感器、磁检测装置及磁检测系统 [P].

高杉圭祐 .

中国专利 :CN113267620A ,2021-08-17

[10]

磁传感器、磁检测装置及磁检测系统 [P].

高杉圭祐 .

日本专利 :CN113267620B ,2024-10-29

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