形面测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910164678.6

申请日：

2019-03-05

公开(公告)号：

CN109916253A

公开(公告)日：

2019-06-21

发明(设计)人：

蒋雨晴陈伟马超舒畅

申请人：

申请人地址：

401135 重庆市渝北区龙兴镇迎龙大道19号

IPC主分类号：

G01B500

IPC分类号：

G01B520

代理机构：

北京卓唐知识产权代理有限公司 11541

代理人：

唐海力;李志刚

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-21	公开	公开
2019-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 5/00 申请日:20190305
2022-04-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 5/00 申请公布日:20190621

共 50 条

[1]

低温面形摄影测量方法 [P].

钱元 ;

娄铮 ;

刘昌儒 ;

范生宏 ;

王海仁 ;

左营喜 ;

杨戟 .

中国专利 :CN105403168A ,2016-03-16

[2]

静压导轨面形精度的测量方法及测量装置 [P].

陈洪 ;

成温伟 ;

刘文志 ;

高逸鸿 ;

吕鹤 ;

唐健 ;

罗星 ;

余俊成 .

中国专利 :CN119714175A ,2025-03-28

[3]

柔性网状面形照相测量方法 [P].

杨德华 ;

李徽 ;

李国平 .

中国专利 :CN102155937B ,2011-08-17

[4]

测量装置、间隙测量方法、面差测量方法以及存储介质 [P].

张秀程 ;

江凯 ;

孙玉梅 ;

顾冉 ;

王玉田 .

中国专利 :CN112556562A ,2021-03-26

[5]

一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法 [P].

戴一帆 ;

胡皓 ;

孙梓洲 ;

彭小强 ;

关朝亮 ;

赖涛 .

中国专利 :CN115533675B ,2025-08-12

[6]

干涉测量装置、光学面形测量方法及光学测量系统 [P].

张文喜 ;

焦琪璐 ;

朱聪慧 ;

伍洲 .

中国专利 :CN121112881A ,2025-12-12

[7]

一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法 [P].

戴一帆 ;

胡皓 ;

孙梓洲 ;

彭小强 ;

关朝亮 ;

赖涛 .

中国专利 :CN115533675A ,2022-12-30

[8]

球端面锥形透镜的面形测量方法 [P].

张善华 ;

袁乔 ;

曾爱军 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN103063158A ,2013-04-24

[9]

面密度测量的标定方法、面密度的测量方法和测量装置 [P].

张敬东 ;

王强军 ;

陈维刚 .

中国专利 :CN119053842A ,2024-11-29

[10]

辊面温度精确测量装置以及测量方法 [P].

高齐 ;

金小礼 ;

吴存有 ;

周月明 .

中国专利 :CN106475426B ,2017-03-08

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