Z扫描光学非线性测量装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210487216.6

申请日：

2012-11-26

公开(公告)号：

CN102937573A

公开(公告)日：

2013-02-20

发明(设计)人：

蔡晓林魏劲松

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01N2117

IPC分类号：

G01N2141

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 21/17 登记生效日:20210111 变更事项:专利权人变更前权利人:中国科学院上海光学精密机械研究所变更后权利人:南京先进激光技术研究院变更事项:地址变更前权利人:201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱变更后权利人:210046 江苏省南京市经济技术开发区恒飞路19号
2013-02-20	公开	公开
2015-05-13	授权	授权
2013-03-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101422719900 IPC(主分类):G01N 21/17 专利申请号:2012104872166 申请日:20121126

共 50 条

[1]

非线性测量方法和非线性测量装置 [P].

长谷川健美 ;

林哲也 .

中国专利 :CN110582694B ,2019-12-17

[2]

一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法 [P].

刘新风 ;

眭新雨 ;

姜传秀 ;

杜文娜 .

中国专利 :CN112903596A ,2021-06-04

[3]

非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法 [P].

张霖 ;

任寰 ;

杨一 ;

马骅 ;

陈波 ;

石振东 ;

李东 ;

刘勇 ;

原泉 ;

杨晓瑜 ;

柴立群 ;

刘旭 ;

巴荣生 ;

郑垠波 ;

周信达 .

中国专利 :CN105092477A ,2015-11-25

[4]

一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法 [P].

韩克利 ;

宋李莹 ;

李紫荆 ;

李晓晓 ;

金兵 .

中国专利 :CN114486739B ,2024-06-11

[5]

一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法 [P].

韩克利 ;

宋李莹 ;

李紫荆 ;

李晓晓 ;

金兵 .

中国专利 :CN114486739A ,2022-05-13

[6]

可实时观察监测z扫描光学非线性测量装置和方法 [P].

王睿 ;

魏劲松 .

中国专利 :CN103033488B ,2013-04-10

[7]

双束多功能z扫描光学非线性测量装置和方法 [P].

马晓晴 ;

魏劲松 .

中国专利 :CN101806723B ,2010-08-18

[8]

一种非线性Z扫描测量方法及装置 [P].

张秋慧 ;

武兴会 ;

朱彤珺 ;

付国定 ;

周洪 ;

栗晨 ;

姚成 .

中国专利 :CN111024676B ,2020-04-17

[9]

Z扫描光学偏振度测量装置和测量方法 [P].

焦新兵 ;

薛松 ;

孙榕 ;

解佳欣 .

中国专利 :CN104848944B ,2015-08-19

[10]

材料线性吸收和非线性吸收的测量装置和测量方法 [P].

赵元安 ;

彭小聪 ;

邵建达 ;

吴周令 ;

王岳亮 ;

曹珍 ;

李大伟 ;

胡国行 .

中国专利 :CN107192670A ,2017-09-22

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